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Profilm 3D光学轮廓仪
Profilm3D 光学轮廓仪 低成本 – 高精度Filmetrics让3D光学轮廓测量的价格变得更加能够接受。Profilm3D使用先进的垂直干涉扫描(WLI)与高精度的相位干涉(PSI)技术
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国产固相萃取装置
LPSPE88可同时处理8个样品,连续不间断处理88个样品,萃取的单一样品体积为0-100ml,也可拓展处理达数升的大体积水样。仪器采用高精密注射泵,不易堵塞,适用于食品、药品、农产品、土壤、水样等
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激光扫描轮廓仪
技术参数: 技术参数 Scan modules Measuring range in x,y-direction [mm] Resolution in x
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纳米表面轮廓仪
纳米表面轮廓仪 纳米表面轮廓仪IMOS纳米表面轮廓仪实现了精确、定量、iso兼容、非接触式表面测量和表征微和纳米尺度的表面特征,在短短几秒钟内可捕获多达200万
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光学型轮廓仪
SJ5900粗糙度轮廓仪一体机专业为非球面镜片的大曲面测试,该仪器可以对零件表面,尤其是大范围曲面,如圆弧面和球面、异型曲面等进行检测.
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白光共轭焦轮廓仪
技术参数 Measuring head CX CI Image acquistion module BM 512 Digital camera
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KLA台阶仪 D-300 探针式 表面轮廓仪
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光学轮廓仪WIVS-I
1、简介 由于受到触针针尖半径等的影响,触针式表面轮廓仪横向分辨率受到限制,对于峰峰值很小的表面,触针很难伸到谷底,测得的轮廓失真严重。而且由于接触测量,锋利的针尖会划伤测量
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NanoFocus μScan(激光扫描轮廓仪)
AF2 自动对焦(Autofocus) 借由探测器的回馈讯号调整物镜位置,得到待测物焦点,而获得待测物的确实高度(如下左图)。 CF4 共轭焦(Confocal, Laser
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Dektak XTL探针式轮廓仪
Dektak XTL™ 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品,为大型晶圆和面板制造带来Dektak ®传奇的可重复性。Dektak XTL 具有空气振动隔离设计和
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