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赛默飞200 kV场发射透射电镜Talos F200i TEM
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岛津场发射电子探针EPMA-8050G
“The Grand EPMA” 诞生搭载最尖端场发射电子光学系统将岛津EPMA分析性能发挥到极致。从SEM观察条件到1μA量级,在各种束流条件下都拥有无与伦比卓越空间分辨率的尖端场发射
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200kV场发射透射电子显微镜
的非常有效的技术。它能够产生很多的信号, 这些信号携带了不同类型的有用信息。Tecnai G220经过特殊设计可以快速有效地采集和处理这些信号。将高分辨图像、明场/暗场图像、STEM图像、电子衍射和
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EPMA-8050G 场发射电子探针EPMA-8050G岛津
“TheGrandEPMA”是一个全新的岛津EPMA系统,它搭载了最先进的场发射电子光学系统,将岛津EPMA分析性能发挥到极致。无论是在SEM观察条件下还是在1μA量级下,这个系统都拥有无与伦比的
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赛默飞(原FEI)Apreo场发射扫描电子显微镜
Apreo功能最为丰富的高性能 SEMApreo 复合透镜结合了静电和磁浸没技术,可产生前所未有的高分辨率和材料对比度。Apreo 是研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台,而不会降低磁性样品
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X-Max TEM硅漂移探测器EDS 应用于地矿/有色金属
高灵敏度出色的分辨率,在50,000cps下保证Mn的分辨率优化的检出角,可获得高质量的峰背比和轻元素检测能力其出色的表现在所有类别TEM上均得到验证,包括场发射、球差校正电镜利用AZtecTEM
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牛津仪器硅漂移探测器EDS 适用于Power Semiconductors
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硅漂移探测器牛津仪器X-Max TEM 应用于纳米材料
cps下保证Mn的分辨率优化的检出角,可获得高质量的峰背比和轻元素检测能力其出色的表现在所有类别TEM上均得到验证,包括场发射、球差校正电镜利用AZtecTEM TruMap软件计算有助于快速获取元素
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X-Max TEM硅漂移探测器牛津仪器 适用于Microstructure and Mechanical Properties
效率与低能端X射线的高灵敏度出色的分辨率,在50,000cps下保证Mn的分辨率优化的检出角,可获得高质量的峰背比和轻元素检测能力其出色的表现在所有类别TEM上均得到验证,包括场发射、球差校正电镜利用
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EDS硅漂移探测器牛津仪器 可检测Pollutant
cps下保证Mn的分辨率优化的检出角,可获得高质量的峰背比和轻元素检测能力其出色的表现在所有类别TEM上均得到验证,包括场发射、球差校正电镜利用AZtecTEM TruMap软件计算有助于快速获取元素
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