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200kV场发射透射电子显微镜
仪器简介:对材料特性的全面认识是理解材料性能的基本前提。材料形态、晶体结构、化学成分、界面结构、表面以及缺陷都对材料的性能产生影响。透射电子显微镜已经被证实是在小到埃级尺寸研究各种普通材料和先进材料
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国产场发射透射电子显微镜
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JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜
JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜JEM-3200FS场发射电子显微镜配备了zei高加速电压为300kV的场发射电子枪(FEG)和镜筒内置式Ω型能量过滤器,能为广泛的研究领域提供各种全新的
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国产场发射透射电子显微镜 TH-F120
TH-F120取名源自中华名山“太行”(TH),寓意TH-F120将如太行山一样成为中国透射电镜产业的脊梁。中国首台商业场发射透射电镜产品
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日本电子JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜
JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜JEM-3200FS场发射电子显微镜配备了zei高加速电压为300kV的场发射电子枪(FEG)和镜筒内置式Ω型能量过滤器,能为广泛的研究领域提供各种全新的
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赛默飞(原FEI)Apreo场发射扫描电子显微镜
Apreo功能最为丰富的高性能 SEMApreo 复合透镜结合了静电和磁浸没技术,可产生前所未有的高分辨率和材料对比度。Apreo 是研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台,而不会降低磁性样品
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CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 场发射冷冻透射电子显微镜
CRYO ARM™ 300 II 是一款低温冷冻透射电子显微镜,专门用于观察如蛋白质等对电子束敏感的样品,可进行单颗粒分析、断层扫描和MicroED等实验。与上一代CRYO ARM
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JEOL JEM-2800 200kV高通量场发射透射电子显微镜
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日本电子JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜 新型测角台
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日本电子CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 场发射冷冻透射电子显微镜
CRYO ARM™ 300 II 是一款低温冷冻透射电子显微镜,专门用于观察如蛋白质等对电子束敏感的样品,可进行单颗粒分析、断层扫描和MicroED等实验。与上一代CRYO ARM
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