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介质损耗因数试验仪
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塞默飞CTS™ Neurobasal™ 培养基
Gibco™CTS™ Neurobasal™ 培养基货号: A1371201CTS Neurobasal 培养基专为转化干细胞研究人员而设计。配合 B-27 补充剂一起使用时,其可用于培养产前神经元
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介质损耗因数测试仪
型号:ST-1556 ST-1556绝缘油介质损耗及体积电阻率测定仪符合GB/T5654-2007,用于测定绝缘油等液体绝缘介质的介质损耗因数和直流电阻率的测量,介质损耗因数及电阻率可一次
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增实因数测定仪
增实因数测定仪概述 本仪器是引用国标GB/T50080-2016,符合JC/T958的规定,混凝土拌合物稠度试验方法-跳桌增实法,工作原理 增实因数测定仪原理是利用跳桌对一定量的混凝土拌合
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介质损耗因数测试仪
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介质损耗因数测试仪
介质损耗因数测试仪GCSTD-A/B技术规格:极宽的温度范围:室温~1000℃,多种型号选择: 室温~500℃, 室温~800℃, 室温~1000℃介质损耗因数测试仪GCSTD-A/B极高的测量精度
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介质损耗因数测试仪
ZJD系列介电常数介质损耗因数测试仪详细介绍ZJD系列介电常数介质损耗因数测试仪用于测量电介质块体或薄膜样品在高低温、真空、气氛等条件下的介电常数和损耗、阻抗谱Cole-Cole图、机电耦合系数
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材料介质损耗因数试验仪
试验条件:1、试样表面应清洁、平滑,无裂纹、气泡和杂质等,试样表面应用蘸有无水乙醇的布擦洗。 2、试样应在标准实验室温度及湿度下至少调节24h。 3、当试样处理有特殊要求时,可按其产品标准规定的进行。
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LCMS培养基上清分析方法包
LC/MS/MS细胞培养基上清分析方法包LC/MS/MS Method Package for Cell Culture Profiling LabSolutions Ver.5用
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工频介电损耗因数试验仪
仪器是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。
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