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Autosorb-iQ-C化学吸附仪安东帕 可检测负载于氧化铝基底
安东帕化学吸附仪Autosorb-iQ-C可用于测定负载于氧化铝基底,适用于样品预处理-物理吸附,样品预处理-化学吸附项目。并且参考多项行业标准。可应用于高分子材料行业领域。 在Autosorb
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X射线散射仪安东帕SAXSess mc^2 可检测沉积在硅基底的FeO
安东帕小角X-射线散射仪SAXSess mc^2适用于化学品检测纳米结构分析项目,参考多项行业标准。可以检测沉积在硅基底的FeO 纳 米 颗 粒等样品。可应用于纳米材料行业领域。 沉积在硅基底的
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X射线散射仪安东帕SAXSpace小角X-射线散射仪 可检测沉积在硅基底的FeO
安东帕小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace适用于化学品检测纳米结构分析项目,参考多项行业标准。可以检测沉积在硅基底的FeO 纳 米 颗 粒等样品。可应用于纳米材料行业领域。 沉积在硅基底的FeO
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安东帕全自动比表面和孔径分布分析仪比表面 可检测负载于氧化铝基底
安东帕全自动比表面和孔径分布分析仪Autosorb-iQ可以用在生物质材料行业领域,用来检测负载于氧化铝基底,可完成样品预处理-物理吸附,样品预处理-化学吸附项目。符合多项行业标准。 在
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椭偏仪UVISEL 堀场HORIBA 可检测玻璃和预蒸镀基底
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 用于测定玻璃和预蒸镀基底,符合行业标准0。适用光学常数项目。 技术参数: * 光谱范围: 190-885 nm(可扩展至2100nm
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Ultrapyc3000/Ultrapyc5000密度计Ultrapyc 3000/Ultrapyc 5000全自动真密度分析仪 可检测负载于氧化铝基底
安东帕密度计Ultrapyc3000/Ultrapyc5000参考多项行业标准。完成负载于氧化铝基底的检测。可以用在生物质材料行业领域中的样品预处理-物理吸附,样品预处理-化学吸附项目。 在
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金属基底反射镜
金属基底反射镜采用铝膜基片反射镜适用于长波红外激光应用可选择铝膜和金膜通用规格基底:Aluminum 6061-T6表面质量:80-50镀膜类型:Metal有效孔径 (%):90表面粗糙度(埃
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ImageXpress Micro Confocal/IXM-C高内涵筛选/成像美谷分子 可检测人工基底膜
,人工基底膜,钙荧光素乙酰氧基甲酯,适用于形态学表征项目。并且参考多项行业标准。可应用于神经科学行业领域。 前言 共聚焦模块显著提高图像的清晰度和数据的准确性与宽场成像比较,共聚焦模式在拍摄厚组织
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UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪 表征玻璃基底上的ZrO2薄膜
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 参考多项行业标准0。完成ZrO2薄膜的检测。可以用在电子/半导体行业领域中的膜厚度,光学常数,组成项目。 仪器简介
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Ni基底石墨烯
Multilayer Graphene on Nickel foil: 2"x2" sheetNickel foil thickness: 25 micronWe offer multilayer
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