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HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪堀场HORIBA椭偏仪 可检测溶液
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可用于测定溶液,适用于疏水改性多聚糖在气水界面的聚集项目。并且参考多项行业标准0。可应用于其他生命科学行业领域。 技术参数
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HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪堀场HORIBA 应用于涂料
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可以用在其他化工行业领域,用来检测电致变色器件,可完成表面粗糙度,界面层项目。符合多项行业标准0。 The UVISEL
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椭偏仪HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪堀场HORIBA 可检测OLED封装器件
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 适用于厚度,光学常数项目,参考多项行业标准0。可以检测OLED封装器件等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 技术参数: * 光谱范围
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堀场HORIBA椭偏仪HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 应用于其他化工
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 可以用在其他化工行业领域,用来检测硫系玻璃,可完成厚度,光学常数项目。符合多项行业标准0。 技术参数: * 光谱范围: 190-885 nm(可
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HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪堀场HORIBA椭偏仪 应用于其他化工
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可以用在涂料行业领域,用来检测电致变色器件,可完成表面粗糙度,界面层项目。符合多项行业标准0。 The UVISEL
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椭偏仪HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪堀场HORIBA 可检测有机半导体
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 适用于光学常数项目,参考多项行业标准0。可以检测有机半导体等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术
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HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪堀场HORIBA 适用于光学常数
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 参考多项行业标准0。完成ZnO薄膜的检测。可以用在其他化工行业领域中的光学常数项目。 技术参数: * 光谱范围: 190-885 nm(可扩展至
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UVISEL 堀场HORIBA椭偏仪 可检测ZnO薄膜
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 用于测定ZnO薄膜,符合行业标准0。适用光学常数项目。 技术参数: * 光谱范围: 190-885 nm(可扩展至2100nm
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HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪堀场HORIBA 适用于厚度,光学常数
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 用于测定OLED封装器件,符合行业标准0。适用厚度,光学常数项目。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振光经过薄膜样品反射
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堀场HORIBA椭偏仪HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 适用于厚度,光学常数
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 用于测定TiO2薄膜和多层减反膜,符合行业标准0。适用厚度,光学常数项目。 技术参数: * 光谱范围
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