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卓立汉光宽带隙小型深紫外PL-Mapping(光致发光)光谱仪
仪器简介: 光致荧光光谱测量是半导体材料特性表征的一个被普遍认可的重要测量手段。MiniPL为模块化设计、计算机自动控制的高灵敏度、宽带隙小型PL(光致荧光)光谱仪
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卓立汉光宽带隙小型深紫外PL-Mapping(光致发光)光谱仪 应用于科研领域
卓立汉光宽带隙小型深紫外PL-Mapping(光致发光)光谱仪 应用于科研领域仪器简介: 光致荧光光谱测量是半导体材料特性表征的一个被普遍认可的重要测量手段。MiniPL为
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卓立汉光宽带隙小型深紫外PL-Mapping(光致发光)光谱仪 应用于半导体LED产业中的品质检测
卓立汉光宽带隙小型深紫外PL-Mapping(光致发光)光谱仪 应用于半导体LED产业中的品质检测 仪器简介: 光致荧光光谱测量是半导体材料特性表征的一个被普遍认可的重要
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小型深紫外宽带隙光致发光光谱仪 MiniPL
光致荧光光谱测量是半导体材料特性表征的一个被普遍认可的重要测量手段。波威提供的MiniPL为模块化设计、计算机自动控制的高灵敏度、宽带隙小型PL(光致荧光)光谱仪。
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宽带ASE 光源ASE-200
Alnair Labs ASE-200 型宽带光源提供C 或L 波段宽光谱输出,最高功率可达23dBm。稳定性可达0.005dB/5mins,0.02dB/8hrs。宽带光源可结合滤波器构成
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比表面积及孔径\隙度分析仪BSD-PM
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无波长间歇宽带飞秒OPO
无波长间歇宽带飞秒OPO基于Radiantis技术,Inspire输出345 - 2500nm范围内无间歇调谐、变换极限脉冲之飞秒超快激光器。Inspire仅采用一套光学器件即可覆盖紫外-近红外
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牛津仪器宽带多核台式核磁共振谱仪X-Pulse
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Acktar 涂黑气隙
Acktar 涂黑气隙宽带低反射率镀膜从EUV 到 SWIR 吸光度 99%缝隙尺寸低至 25μm x 3mm备有未封装和已封装版通用规格外径 (mm):9.53 ±0.1构造 :Stainless
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贝士德BSD-PM比表面积及孔径\隙度分析仪
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