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牛津仪器EBSD系统 层状聚合物结构的成像与失效分析
行业领域。 层状聚合物结构的成像与失效分析 Symmetry S2是市场上真正的全能型EBSD探测器,它采用先进的CMOS技术是一款革命性的EBSD探测器。为所有EBSD应用提供优越的品质、灵活易用
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Cary 5000Agilent 紫外-可见-近红外分光光度计安捷伦 可检测层状薄膜
安捷伦Agilent 紫外-可见-近红外分光光度计Cary 5000适用于折射率,吸收系数,厚度项目,参考多项行业标准。可以检测层状薄膜等样品。可应用于地矿/有色金属行业领域。 采用配备全能型测量
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EBSD系统 Symmetry 探测器EBSD 层状聚合物结构的成像与失效分析
牛津仪器EBSD系统EBSD用于测定Polymer Materials,符合行业标准Oxford Instruments。适用Polymer Materials项目。 层状聚合物结构的成像与失效分析
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牛津仪器Cypher ESAsylumResearchAFM及扫描探针 层状聚合物结构的成像与失效分析
Polymer Materials项目。 层状聚合物结构的成像与失效分析 销售总监John Grenn说:“Asylum Research创新性的纳米力学扫描模式和环境控制能力使得Cypher ES
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Azteclive牛津仪器能谱实时元素成像系统 层状聚合物结构的成像与失效分析
。可应用于生物质材料行业领域。 层状聚合物结构的成像与失效分析 附录视频中以Ti6Al4V钛合金细粉末为例做了展示。Ti6Al4V是一种轻合金,具有优异的力学性能、耐腐蚀性和良好的生物相容性。它是许多
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ICP-AES珀金埃尔默PerkinElmer ICP ICP-OES法与AAS法在质控滤膜多金属应用比较
点击查看下载ICP-AES珀金埃尔默PerkinElmer ICP ICP-OES法与AAS法在质控滤膜多金属应用比较相关资料,进一步了解产品。 仪器简介
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ICP-AES珀金埃尔默Optima 8300 ICP-OES法与AAS法在质控滤膜多金属应用比较
珀金埃尔默 ICP-OES 等离子体发射仪Optima 8300可用于测定,适用于项目。并且参考多项行业标准。可应用于多个行业领域。 专利的 RF 发生器采用免维护的等离子体感应板
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珀金埃尔默Optima 8300ICP-AES ICP-OES法与AAS法在质控滤膜多金属应用比较
珀金埃尔默ICP-AESOptima 8300用于测定,符合行业标准。适用项目。 专利的 RF 发生器采用免维护的等离子体感应板,替代传统的螺旋负载线圈。无需冷却,氩耗降低,操作成本
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Optima 7300V珀金埃尔默ICP-AES ICP-OES法与AAS法在质控滤膜多金属应用比较
珀金埃尔默ICP-AESOptima 7300V参考多项行业标准。完成的检测。可以用在多个行业领域中的项目。 仪器简介 : PerkinElmer的电感耦合等离子体发射光谱仪
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X射线能谱仪EDS能谱探测器Ultim Extreme 层状聚合物结构的成像与失效分析
样品。可应用于纳米材料行业领域。 层状聚合物结构的成像与失效分析 SEM中EDS分析高空间分辨率和低能端性能。将Extreme电子电路、无窗设计与几何结构和传感器的优化设计相结合,灵敏度比传统大面积
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