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比表面积及孔径\隙度分析仪BSD-PM
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卓立汉光宽带隙小型深紫外PL-Mapping(光致发光)光谱仪
积分平均器(Boxcar)进行数据处理,实现微弱脉冲信号的检测。MiniPL可被用表征半导体材料掺杂水平分析、合成组分分析、带隙分析等,不仅可用于科研领用,更可用在半导体LED产业中的品质
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Acktar 涂黑气隙
Acktar 涂黑气隙宽带低反射率镀膜从EUV 到 SWIR 吸光度 99%缝隙尺寸低至 25μm x 3mm备有未封装和已封装版通用规格外径 (mm):9.53 ±0.1构造 :Stainless
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Lambda 650/850/950紫外Lambda 650/850/950可见分光光度计(PerkinElmer) 用-可见-近红外分光光度计测量粉末状TiO2带隙的简单方法
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贝士德BSD-PM比表面积及孔径\隙度分析仪
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紫外Lambda 650/850/950紫外可见分光光度计(PerkinElmer)珀金埃尔默 用紫外-可见-近红外分光光度计测量粉末状TiO2带隙的简单方法
珀金埃尔默Lambda 650/850/950紫外可见分光光度计(PerkinElmer)Lambda 650/850/950参考多项行业标准。完成的检测。可以用在多个行业领域中的项目。 仪器简介
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分光光度计(PerkinElmer) 用紫外-可见-近红外分光光度计测量粉末状TiO2带隙的简单方法
珀金埃尔默紫外Lambda 650/850/950可用于测定,适用于项目。并且参考多项行业标准。可应用于多个行业领域。 光谱带宽: ≤0.17nm ≤0.05nm
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芯硅谷 P6219 陶瓷乳钵,带研磨棒,带底座
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贝士德BSD-PM比表面积及孔径\隙度分析仪 测试材料孔径分布
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卓立汉光宽带隙小型深紫外PL-Mapping(光致发光)光谱仪 应用于科研领域
组分分析、带隙分析等,不仅可用于科研领用,更可用在半导体LED产业中的品质检测。 技术参数: 主要规格特点: ■ 采用5.5(224nm)或5.0 eV(248.6nm)深紫外激光器
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