取向,可以进一步增强其流动性。为了识别晶相评价分子取向,X射线衍射对不同厚度(150nm和20nm)的多晶并五苯薄膜执行测量,在一张超高真空下的Si(001)基板上的一层加热的300nm厚的氧化膜上
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