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堀场HORIBAHORIBA 能散型XRF 微区XRF在地质上的应用
堀场HORIBA能散型XRFXGT-7200V X射线分析显微镜适用于元素检测项目,参考多项行业标准0。可以检测花岗岩,金伯利岩等样品。可应用于地矿/有色金属行业领域。 结合光学图像,高速高准确度
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HORIBA XGT-7200V X射线分析显微镜能散型XRF 微区XRF的生物应用
堀场HORIBAHORIBA XGT-7200V X射线分析显微镜可以用在其他生命科学行业领域,用来检测胃溃疡与锌,竹荚鱼耳石,可完成组成,元素分布项目。符合多项行业标准0。 结合光学图像,高速高
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XGT-7200V X射线分析显微镜能散型XRF堀场HORIBA 微区XRF的指纹图像
堀场HORIBA能散型XRFXGT-7200V X射线分析显微镜适用于微XRF元素成像,元素分析项目,参考多项行业标准0。可以检测指纹等样品。可应用于其他临床/法医行业领域。 结合光学图像,高速高
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普林斯顿VersaSCAN微区电化学测试系统
仪器简介: VersaScan微区扫描电化学工作站是一个建立在电化学扫描探针的设计基础上的,进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。它是提供给电化学及材料测试以极高
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SEM用micro-XRF 微区X射线荧光光谱仪
微区 XRF 是 SEM 中 EDS 分析的互补分析技术扫描电子显微镜 (SEM)的微区 X 射线荧光 (Micro-XRF) 技术是与传统能量分散光谱 (EDS)能力补充的无损分析技术。这种分析
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HORIBA 能散型XRFXGT-7200V X射线分析显微镜 微区XRF用于电子工业
堀场HORIBA能散型XRFXGT-7200V X射线分析显微镜可用于测定电器部件,适用于元素分析项目。并且参考多项行业标准0。可应用于电子/半导体行业领域。 产品特点SDD 检测器,无需液氮双真空
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XGT-7200V X射线分析显微镜能散型XRFHORIBA 微区XRF分析宝石夹杂物
堀场HORIBAHORIBA XGT-7200V X射线分析显微镜可用于测定宝石夹杂物,适用于元素组成项目。并且参考多项行业标准0。可应用于地矿/有色金属行业领域。 产品特点SDD 检测器,无需液氮
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HORIBA 能散型XRFXGT-7200V X射线分析显微镜 微区XRF分析玩具的铅污染
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微区激光拉曼光谱仪
Finder One“微谱”系列微区激光拉曼光谱仪 超高性价比 满足研究级需求的超高性能 自动曝光功能 荧光背景扣除功能 共聚焦光学设计 可定制测试分析软件 扩展联用
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XGT-7200V X射线分析显微镜HORIBA 堀场HORIBA 微区XRF分析红宝石结构及组成
堀场HORIBAHORIBA XGT-7200V X射线分析显微镜用于测定红宝石,符合行业标准0。适用结构,组成项目。 产品特点SDD 检测器,无需液氮双真空设计,可测量含水生物样品同时采集X 射线
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