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普林斯顿VersaSCAN微区电化学测试系统
仪器简介: VersaScan微区扫描电化学工作站是一个建立在电化学扫描探针的设计基础上的,进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。它是提供给电化学及材料测试以极高
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微区激光拉曼光谱仪
Finder One“微谱”系列微区激光拉曼光谱仪 超高性价比 满足研究级需求的超高性能 自动曝光功能 荧光背景扣除功能 共聚焦光学设计 可定制测试分析软件 扩展联用
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OSP370/470非触式微区形貌测试系统
使用非接触式激光位移传感器,OSP370模块可快速准确地对非触表面进行高精度测量。在不接触样品表面的情况下,它可以在10mm的高度范围内提供小于1微米高度分辨率的3D表面特写影像。
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牛津仪器Asylum Research Cypher原子力显微镜 微区导电性能特性测量
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微区激光拉曼光谱仪其它光谱仪Finder One
FinderOne“微谱”系列微区激光拉曼光谱仪超高性价比满足研究级需求的超高性能自动曝光功能荧光背景扣除功能共聚焦光学设计可定制测试分析软件扩展联用功能参数规格表: 主型号
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Finder One微区激光拉曼光谱仪其它光谱仪
FinderOne“微谱”系列微区激光拉曼光谱仪超高性价比满足研究级需求的超高性能自动曝光功能荧光背景扣除功能共聚焦光学设计可定制测试分析软件扩展联用功能参数规格表:主型号FinderOne拉曼光谱
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多功能材料微区原位表征系统-FusionScope
多功能材料微区原位表征系统-FusionScope——AFM&SEM多功能一体化集成设计在多数情况下,为确认不同参数之间的相关性,样品分析通常使用多种技术手段。对于AFM和SEM成像技术而言
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堀场HORIBAHORIBA 能散型XRF 微区XRF在地质上的应用
堀场HORIBA能散型XRFXGT-7200V X射线分析显微镜适用于元素检测项目,参考多项行业标准0。可以检测花岗岩,金伯利岩等样品。可应用于地矿/有色金属行业领域。 结合光学图像,高速高准确度
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3D形貌测试仪
卓立汉光的3D形貌测试仪应运而生,这款仪器采用非接触式线光谱共焦快速扫描技术,能够高精度还原产品的3D结构,对肉眼不可见的结构缺陷都能准确检测。因为具有较快的扫描速度,微米级别的精度和超强的稳定性
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RESOlution 激光微区原位同位素分析与定年系统
RESOlution 激光微区原位同位素分析与定年系统能够分析安装在两种样品支架上的多个样品。惰性气体样品池通过GeoStar软件与RESOlution系统集成,通过波纹管将样品池连接到质谱仪
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