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微电子和半导体用检验系统 DM3 XL
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赛默飞Element GD Plus™ GD-MS 微电子:铜、氧化铝粉、溅射靶材
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赛默飞ELEMENT GD Plus双聚焦辉光放电质谱仪 微电子:铜、氧化铝粉、溅射靶材
Thermo Scientific ELEMENT GD结合了辉光放电离子源和双聚焦高分辨率质量分析器,可以定性定量分析固体样品中包括C、N、O在内的几乎所有元素,是直接、快速分析高纯
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赛默飞ELEMENT GD Plus双聚焦辉光放电质谱仪 微电子:铜、氧化铝粉、溅射靶材
Thermo Scientific ELEMENT GD结合了辉光放电离子源和双聚焦高分辨率质量分析器,可以定性定量分析固体样品中包括C、N、O在内的几乎所有元素,是直接、快速分析高纯
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GVC-1000小型离子溅射仪用于微电子领域
主要适用于扫描电镜镀覆导电膜,仪器操作简单方便,是样品制备所必备的仪器。适用的靶材:金、铂、金钯合金、银、铅、铜、铬、锑等
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微电子和半导体用检验系统 DM3 XL生物显微镜 样本
点击查看下载微电子和半导体用检验系统 DM3 XL生物显微镜 样本相关资料,进一步了解产品。 德国徕卡 正置显微镜 DM3 XL产品样本 可靠检测晶片边缘或中心显影不足的区域检测不均匀的径向膜厚度
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CXF-200/1401型磁悬浮分子泵应用于微电子
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徕卡德国 正置显微镜 DM3 XL立体、体视 可检测微电子和半导体
徕卡德国 正置显微镜 DM3 XLLeica DM3 XL 可用于测定微电子和半导体,适用于微电子和半导体行业快速检测用显微镜产品资料项目。并且参考多项行业标准。可应用于多个行业领域。 高效检验6
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微电子和半导体用检验系统 DM3 XL生物显微镜 德国 正置显微镜 DM3 XL
点击查看下载微电子和半导体用检验系统 DM3 XL生物显微镜 德国 正置显微镜 DM3 XL相关资料,进一步了解产品。 德国徕卡 正置显微镜 DM3 XL产品样本 可靠检测晶片边缘或中心显影不足的
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总有机碳TOC分析仪TOC测定仪Sievers/威立雅 适用于微电子
Sievers/威立雅总有机碳TOC分析仪Sievers M9e用于测定超纯水,符合行业标准暂无。适用微电子项目。 行业挑战 Sievers M9e总有机碳(TOC)分析仪专为微电子应用而设计。此
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2023仪器产业营收超1万亿,这些仪器公司增长显著
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