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德国Sentech范光谱椭偏仪
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德国Sentech红外光谱椭偏仪SENDIRA
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椭偏仪堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 椭圆偏振光谱仪研究ZnO薄膜
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可用于测定ZnO薄膜,适用于光学常数项目。并且参考多项行业标准0。可应用于涂料行业领域。 技术参数: * 光谱
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堀场HORIBA椭偏仪HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 椭圆偏振光谱仪的标准应用
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 可用于测定ZnO薄膜,适用于Al含量,膜厚度项目。并且参考多项行业标准0。可应用于电子/半导体行业领域。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量
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HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪UVISEL 使用椭圆偏振光谱仪表征光伏器件
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 适用于厚度,光学常数项目,参考多项行业标准0。可以检测光伏器件等样品。可应用于多个行业领域。 技术参数
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椭偏仪UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 应用于涂料
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 适用于光学常数项目,参考多项行业标准0。可以检测ZnO薄膜等样品。可应用于涂料行业领域。 技术参数: * 光谱范围: 190-885 nm(可
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椭偏仪UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 应用于涂料
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 参考多项行业标准0。完成硫系玻璃的检测。可以用在其他化工行业领域中的厚度,光学常数项目。 技术参数: * 光谱
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HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪UVISEL 应用于涂料
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 适用于厚度,光学常数项目,参考多项行业标准0。可以检测TiO2薄膜和多层减反膜等样品。可应用于其他化工行业领域。 技术参数: * 光谱范围
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椭偏仪UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 应用于其他化工
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 参考多项行业标准0。完成介孔硅复合材料的检测。可以用在其他化工行业领域中的厚度,光学常数,各向异性项目。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量
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椭偏仪UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 应用于其他化工
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 用于测定TiO2薄膜和多层减反膜,符合行业标准0。适用厚度,光学常数项目。 技术参数: * 光谱范围
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