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芯硅谷 PVC薄膜
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薄膜,片材在线测厚仪
仪器简介:热电瑞美公司RM200在线测量和控制系统是专门设计应用于薄膜生产线,可以在线测量薄膜的厚度,并反馈信号自动控制模头螺栓,使薄膜厚度均匀,提高产品质量,降低原材料消耗。热电瑞美公司在上海建有
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安东帕小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
点击查看下载安东帕小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料,进一步了解产品。 目前,在未来能量转换和存储体系中,对介孔材料薄膜进行了广泛的研究
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SAXSess mc^2安东帕小角X-射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
点击查看下载SAXSess mc^2安东帕小角X-射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料,进一步了解产品。 目前,在未来能量转换和存储体系中,对介孔材料薄膜进行了广泛的
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实验室光束线装置安东帕X射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
点击查看下载 实验室光束线装置安东帕X射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料,进一步了解产品。 目前,在未来能量转换和存储体系中,对介孔材料薄膜进行了广泛的研究。由于这些
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EHC MHL-50有机薄膜热卷压合机
MHL-50有机薄膜热卷压合机 ,尺寸紧凑节约空间的型号,带卷式加热,适合放在手套箱里! 是有机薄膜器件验证应用的好选择。 该设备以其良好的气泡消除对策,对提高试样研发的精度很有帮助。MHL-50是
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UVISEL 堀场HORIBA椭偏仪 可检测并五苯有机薄膜晶体管
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可以用在电子/半导体行业领域,用来检测并五苯有机薄膜晶体管,可完成厚度项目。符合多项行业标准0。 技术参数
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薄膜分布分析仪贝克曼库尔特DelsaNano C 固体及薄膜表面分析仪
点击查看下载薄膜分布分析仪贝克曼库尔特DelsaNano C 固体及薄膜表面分析仪相关资料,进一步了解产品。 贝克曼库尔特公司的 固体及薄膜表面Zeta电位分析仪,型号:DelsaNano C
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日本EHC 有机薄膜弯曲测试和评估系统ELS-100FM
(cd/m2) - 光谱电源:1 x AC100V / 15A。尺寸/重量:600Wx600Dx2000H(毫米)/约80公斤有机薄膜弯曲测试和评估系统ELS-100FM
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Agilent PCG-750 皮拉尼电容薄膜规管
Agilent PCG-750 规管将皮拉尼和陶瓷电容薄膜规管一体化,具备气体类型单独测量的特点,并提高了从大气压到 5x 10 -5 mbar (3.8 x 10 -5 Torr) 的测量精度。
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