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牛津仪器Symmetry S2 失效分析
牛津仪器EBSD系统Symmetry S2可以用在纳米材料行业领域,用来检测Power Semiconductors,可完成Power Semiconductors项目。符合多项行业标准Oxford
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AsylumResearchAFM及扫描探针Cypher S 失效分析
Power Semiconductors项目。 失效分析 原子力显微镜 Cypher S是一款打破传统AFM速度和分辨率限制的商业AFM。它使用的小型悬臂可以大幅提高速度和分辨率,独特的系统设计方法
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EDS牛津仪器硅漂移探测器 失效分析
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牛津仪器EDS硅漂移探测器 失效分析
。可应用于纳米材料行业领域。 失效分析 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计,可提供卓越的立体角和分析性能旨在获得高输出效率与低能端X射线的高灵敏度出色的分辨率,在
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牛津仪器AFM及扫描探针Cypher VRS 失效分析
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Ultim Extreme能谱探测器牛津仪器 失效分析
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TESCAN 4D-STEM TENSOR 失效分析
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牛津仪器EBSD系统 层状聚合物结构的成像与失效分析
牛津仪器Symmetry S2可用于测定Polymer Materials,适用于Polymer Materials项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于高分子材料
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牛津仪器刻蚀和沉积设备半导体检测仪 失效分析
牛津仪器半导体检测仪PlasmaPro 100 Cobra参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Power Semiconductors的检测。可以用在纳米材料行业领域中的
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原子层刻蚀半导体检测仪PlasmaPro 100 ALE 失效分析
牛津仪器半导体检测仪PlasmaPro 100 ALE可以用在纳米材料行业领域,用来检测Power Semiconductors,可完成Power Semiconductors项目。符合多项行业标准
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