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UVISEL 椭偏仪HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 适用于厚度,光学常数
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 适用于厚度,光学常数项目,参考多项行业标准0。可以检测硫系玻璃等样品。可应用于其他化工行业领域。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术
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HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪堀场HORIBA 适用于光学常数
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 参考多项行业标准0。完成ZnO薄膜的检测。可以用在其他化工行业领域中的光学常数项目。 技术参数: * 光谱范围: 190-885 nm(可扩展至
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堀场HORIBA椭偏仪HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 适用于厚度,光学常数
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 适用于厚度,光学常数项目,参考多项行业标准0。可以检测光伏器件等样品。可应用于多个行业领域。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是
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HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪堀场HORIBA 适用于厚度,光学常数
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 用于测定OLED封装器件,符合行业标准0。适用厚度,光学常数项目。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振光经过薄膜样品反射
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堀场HORIBA椭偏仪HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 适用于厚度,光学常数
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 用于测定TiO2薄膜和多层减反膜,符合行业标准0。适用厚度,光学常数项目。 技术参数: * 光谱范围
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堀场HORIBAUVISEL 椭偏仪 适用于光学特性
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 用于测定AIN,符合行业标准0。适用光学特性项目。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振
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椭偏仪堀场HORIBAUVISEL 适用于光学常数
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 可用于测定有机半导体,适用于光学常数项目。并且参考多项行业标准0。可应用于电子/半导体行业领域。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术
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椭偏仪UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 适用于厚度,光学常数,掺杂的影响
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可用于测定OLED-有机发光二极管,适用于厚度,光学常数,掺杂的影响项目。并且参考多项行业标准0。可应用于电子/半导体行业领域
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HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪堀场HORIBA 适用于膜厚度,光学常数,组成
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 适用于膜厚度,光学常数,组成项目,参考多项行业标准0。可以检测ZrO2薄膜等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 仪器简介
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堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪 适用于厚度,光学常数,各向异性
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 用于测定介孔硅复合材料,符合行业标准0。适用厚度,光学常数,各向异性项目。 技术参数: * 光谱范围
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