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其它物性测试仪器 密度折光 自动进样器梅特勒托利多
illPal™/DryPal™工作原理:illPal™/DryPal™工作原理:用于单个样品的蠕动泵(FillPal)和干燥泵(DryPal)用途:直接从瓶/容器中采样,如低粘度样品。测量之后仅用大量
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μ-BenchCAT专业定制催化剂测试仪器
由ALTAMIRA仪器公司设计制造的μBenchCAT,代表了新型的完整的,桌式催化剂反应装置。气相/液相反应研究所需的所有元件均包括在一个全自动,紧凑型的包装内。多样的选择使得μBenchCAT
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天瑞仪器智能EDX重金属测试系统PHS400EDX
记录,可追溯; 错误机制: 涵盖通讯、逻辑等各方面错误,确保实验可控; 工作模式: 抢先式运行无需等待,按照顺序工作,确保高效作业; 旋转平台: 无需搬动XRF仪器即可自由转至人工工作状态; 高效产能
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梅特勒托利多 FillPal,InMotion, SC1(H),SC30(H)其它物性测试仪器
illPal™/DryPal™工作原理:illPal™和DryPal™是单个样品用的蠕动泵和干燥泵。用途:适用于直接从瓶/容器中采样,如低粘度样品。测量之后仅用大量溶液清洗或者冲洗并干燥测量单元(如
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天瑞仪器 多点连续测试 EDX9000X荧光光谱仪
新开发研制的EDX 9000正是秉承了这一理念。它不仅继承了天瑞仪器EDX系列准确、快速、无损、直观及环保五大特点,采用分析仪器行业先进的极速探测器技术(SDD)可将测试时间降低到1秒。
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红外热像仪TiS60+福禄克 Fluke
灵敏度 (NETD)30 °C 目标温度时,≤ 0.045 °C (45 mK)屏显发射率校正是(数值和表格)屏幕显示可调节背景温度补偿是仪器上可进行透射率校正否
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福禄克Fluke 红外热像仪 样本
灵敏度 (NETD)30 °C 目标温度时,≤ 0.045 °C (45 mK)屏显发射率校正是(数值和表格)屏幕显示可调节背景温度补偿是仪器上可进行透射率校正否 无线连接无线连接有,连接至 PC
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Fluke TiS60+红外热像仪 应用于电子/半导体
°C 时,取较大值)热灵敏度 (NETD)30 °C 目标温度时,≤ 0.045 °C (45 mK)屏显发射率校正是(数值和表格)屏幕显示可调节背景温度补偿是仪器上可进行透射率校正否 无线连接
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红外热像仪TiS60+福禄克 应用于建材/家具
)热灵敏度 (NETD)30 °C 目标温度时,≤ 0.045 °C (45 mK)屏显发射率校正是(数值和表格)屏幕显示可调节背景温度补偿是仪器上可进行透射率校正否
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红外热像仪Fluke TiS60+ 热像仪 : 技术
°C 时,取较大值)热灵敏度 (NETD)30 °C 目标温度时,≤ 0.045 °C (45 mK)屏显发射率校正是(数值和表格)屏幕显示可调节背景温度补偿是仪器上可进行透射率校正否 无线连接
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