-
牛津仪器Xplore能谱探测器
Xplore是SEM常规分析所用新一代EDS探测器。探测器有效晶体面积为15/30mm2 ,应用范围广泛。Xplore使用了Ultim Max探测器中诸多新技术,它提供了实时EDS分析所需的快速数据
-
牛津仪器Xplore能谱探测器 高通量
牛津仪器推出专为扫描电镜配置的Xplore 15/30能谱仪Xplore是SEM常规分析所用新一代EDS探测器。探测器有效晶体面积为15/30mm2 ,应用范围广泛。Xplore使用了Ultim
-
牛津仪器Xplore能谱探测器 应用范围广泛
Xplore EDS能谱仪探测器高通量、紧凑型 SDD 设计,适合SEM中常规的微观分析15mm2 或30mm2 活区面积能量分辨率保证 Mn Kα优于129eV @ 100,000cps高分子超薄
-
牛津仪器Xplore能谱探测器 SEM常规分析
牛津仪器Xplore能谱探测器 Xplore是SEM常规分析所用新一代EDS探测器。探测器有效晶体面积为15/30mm2 ,应用范围广泛。Xplore使用了Ultim Max探测器中诸多新技术,它
-
牛津仪器Xplore能谱探测器 SEM中常规微观分析
Xplore 15/30探测器于2020年进入牛津仪器的EDS大家族,可以为所有用户提供实时元素分析或实时元素成像分析,检测效率及数据准确性更高,为您的SEM带来系统的解决方案! Xplore
-
能谱探测器Ultim Extreme牛津仪器 EXTREME 能谱探测器
点击查看下载能谱探测器Ultim Extreme牛津仪器 EXTREME 能谱探测器相关资料,进一步了解产品。 牛津仪器 EXTREME 能谱探测器 应用手册 Ultim Extreme 硅漂移
-
牛津仪器Xplore新一代EDS探测器
Xplore 15/30探测器于2020年进入牛津仪器的EDS大家族,可以为所有用户提供实时元素分析或实时元素成像分析,检测效率及数据准确性更高,为您的SEM带来系统的解决方案!Xplore是SEM
-
牛津仪器Ultim Extreme能谱探测器
-
Ultim Extreme能谱探测器牛津仪器 失效分析
牛津仪器能谱探测器Ultim Extreme用于测定Power Semiconductors,符合行业标准Oxford Instruments。适用Power Semiconductors项目
-
能谱探测器X射线能谱仪EDS牛津仪器 可检测Semiconductors
牛津仪器能谱探测器Ultim Extreme可用于测定Power Semiconductors,适用于Power Semiconductors项目。并且参考多项行业标准Oxford
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net