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牛津仪器Symmetry S2 失效分析
Instruments。 失效分析 Symmetry S2采用专门定制的CMOS传感器和光纤板光学系统,集高速、高灵敏度和高衍射花样质量于一体的强大组合。Symmetry S2与AZtec软件相结合
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AsylumResearchAFM及扫描探针Cypher S 失效分析
Power Semiconductors项目。 失效分析 原子力显微镜 Cypher S是一款打破传统AFM速度和分辨率限制的商业AFM。它使用的小型悬臂可以大幅提高速度和分辨率,独特的系统设计方法
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EDS牛津仪器硅漂移探测器 失效分析
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牛津仪器EDS硅漂移探测器 失效分析
。可应用于纳米材料行业领域。 失效分析 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计,可提供卓越的立体角和分析性能旨在获得高输出效率与低能端X射线的高灵敏度出色的分辨率,在
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牛津仪器AFM及扫描探针Cypher VRS 失效分析
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Ultim Extreme能谱探测器牛津仪器 失效分析
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TESCAN 4D-STEM TENSOR 失效分析
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牛津仪器EBSD系统 层状聚合物结构的成像与失效分析
行业领域。 层状聚合物结构的成像与失效分析 Symmetry S2是市场上真正的全能型EBSD探测器,它采用先进的CMOS技术是一款革命性的EBSD探测器。为所有EBSD应用提供优越的品质、灵活易用
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牛津仪器刻蚀和沉积设备半导体检测仪 失效分析
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原子层刻蚀半导体检测仪PlasmaPro 100 ALE 失效分析
Oxford Instruments。 失效分析 准确的刻蚀深度控制;光滑的刻蚀表面低损伤工艺数字化/循环式刻蚀工艺——刻蚀相当于ALD高选择比能加工最大200mm的晶圆高深宽比(HAR)刻蚀工艺非常
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