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HPCE512高效毛细管电泳仪
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薄膜分布分析仪贝克曼库尔特DelsaNano C 固体及薄膜表面分析仪
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DelsaNano CZeta电位薄膜分布分析仪 样本
包括薄膜、纤维等固体表面研究的新领域。 固体平面样品的Zeta电位可以使用平面样品池来测定。该样品池的上壁为固体平面样品的表面代替。由于样品池上下壁表面的电荷有差异,样品池中的电渗流变得不对称。电渗流
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Zeta电位贝克曼库尔特DelsaNano C 应用于药品包装材料
一个可探索的包括薄膜、纤维等固体表面研究的新领域。 固体平面样品的Zeta电位可以使用平面样品池来测定。该样品池的上壁为固体平面样品的表面代替。由于样品池上下壁表面的电荷有差异,样品池中的电渗流
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Zeta电位DelsaNano C薄膜分布分析仪 应用于纳米材料
一个可探索的包括薄膜、纤维等固体表面研究的新领域。 固体平面样品的Zeta电位可以使用平面样品池来测定。该样品池的上壁为固体平面样品的表面代替。由于样品池上下壁表面的电荷有差异,样品池中的电渗流
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DelsaNano C贝克曼库尔特薄膜分布分析仪 应用于高分子材料
一个可探索的包括薄膜、纤维等固体表面研究的新领域。 固体平面样品的Zeta电位可以使用平面样品池来测定。该样品池的上壁为固体平面样品的表面代替。由于样品池上下壁表面的电荷有差异,样品池中的电渗流
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薄膜Zeta电位分布分析仪贝克曼库尔特Zeta电位 应用于生物质材料
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贝克曼库尔特Zeta电位薄膜Zeta电位分布分析仪 可检测材料表面
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贝克曼库尔特Zeta电位薄膜Zeta电位分布分析仪 适用于固体(或薄膜)与液体之介面Zeta电位
样品池上下壁表面的电荷有差异,样品池中的电渗流变得不对称。电渗流取决于安装的样品平面的表面电荷。可用Mori和Okamoto的方程来分析,以测定上壁(样品)表面处的电渗流速度。可以通过表观迁移率减去
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Zeta电位贝克曼库尔特DelsaNano C 应用于纳米材料
平面样品的表面代替。由于样品池上下壁表面的电荷有差异,样品池中的电渗流变得不对称。电渗流取决于安装的样品平面的表面电荷。可用Mori和Okamoto的方程来分析,以测定上壁(样品)表面处的电渗流
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