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牛津仪器EDS硅漂移探测器 半导体制造
于纳米材料行业领域。 半导体制造解决方案 出众的低能端分析性能,保证所有尺寸的能谱仪皆可探测到Be元素使用大面积能谱仪意味着:低束流下有足够的计数率尽可能高的实现图像的可视性及准确性无需为能谱分析改变
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硅漂移探测器EDSX-MaxN 应用于电子/半导体
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN适用于Power Semiconductors项目,参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Power Semiconductors等样品
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硅漂移探测器EDS牛津仪器 应用于电子/半导体
牛津仪器EDSX-Max TEM可以用在电子/半导体行业领域,用来检测Power Semiconductors,可完成Power Semiconductors项目。符合多项行业标准Oxford
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硅漂移探测器EDS牛津仪器 应用于电子/半导体
牛津仪器EDSX-MaxN可用于测定岩石,适用于Characterising Complex Rock Samples using Symmetry项目。并且参考多项行业标准Oxford
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牛津仪器EDS硅漂移探测器 应用于电子/半导体
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM可用于测定 Li-Ion battery,适用于Identifying contaminants in Li-Ion battery production
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EDS硅漂移探测器牛津仪器 应用于电子/半导体
牛津仪器EDSX-MaxN可用于测定 Li-Ion battery,适用于Identifying contaminants in Li-Ion battery production using
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安东帕Nova系列比表面和孔径分析仪 测量硅基类材料的孔径分布
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X-Max TEM牛津仪器硅漂移探测器 半导体制造
牛津仪器EDSX-Max TEM用于测定Power Semiconductors,符合行业标准Oxford Instruments。适用Power Semiconductors项目。 半导体
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硅漂移探测器EDSX-Max TEM 应用于电子/半导体
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM适用于Power Semiconductors项目,参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Power Semiconductors等样品
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硅漂移探测器牛津仪器X-MaxN 应用于电子/半导体
牛津仪器EDSX-MaxN用于测定Power Semiconductors,符合行业标准Oxford Instruments。适用Power Semiconductors项目。 失效分析 仪器简介
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