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孔径分析仪精微高博稀土材料BET比表面及总孔体积测试仪 应用于功能材料
小于2nm微孔的内表面积以后的表面积,显然,BET比表面与外表面之差即为小于2nm的微孔的内表面积,这已演变成为计算微孔内表面积的一种方法。 稀土材料BET比表面及总孔体积测试仪
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稀土材料比表面快速测试仪JW-DX
下限降低一个数量级,非常适合电池正负极材料尤其是石墨等小比表面材料的检测。 (发明专利号201410320453.2) bet比表面积仪性能参数:仪器型号: JW-DX bet比表面积仪原理方法
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贝克曼库尔特颗粒计数器Multisizer 3 可检测纳米级稀土材料
贝克曼库尔特颗粒计数器Multisizer 3用于测定铈锆复合氧化物粉末,纳米级稀土材料,符合行业标准。适用颗粒分析项目。 Multisizer 3 颗粒/细胞计数及粒度分析仪的特点:能用于细菌或
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稀土材料孔隙率测试仪 JW-BK112
稀土材料孔隙率测试仪比表面仪精微高博是比表面仪 具权威的厂商,精微高博比表面仪一并荣获中国计量院测试证书,ISO9001认证及CE认证并且还有专利产品.精微高博比表面仪经技术鉴定,控制精度和测试精度
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ICP-7700型电感耦合等离子发射光谱仪应用于地质、冶金、稀土分离、稀土磁性材料
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ICP-OESICP-AES iCAP PRO系列 可检测稀土球墨铸铁
赛默飞ICP-OES iCAP PRO系列用于测定合金钢,稀土球墨铸铁,La, Ce,P,B,Pb,As,Sn,符合行业标准。适用测定合金钢及 铸铁中 La、Ce、P、B、As、Pb、Sn 等元素
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Optimass 9500 电感耦合等离子体直角加速式飞行时间质谱仪可用于地质、冶金、稀土分离、稀土磁性材料
参数 • 具有半定量和可追溯半定量功能,为将来的定量分析自动储存全部质量数信息 • 具有指纹图谱功能,十分方便谱图比对 • 可选多种附件:自动进样器、氢化物发生器等
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耶拿ICP-AES 高分辨率ICP-OES 适用于稀土和非稀土杂质
元素不同谱线的测定结果比对得较好;两个平行样也平行得较好,充分显示了PQ9000的高分辨率、高灵敏度、高稳定性和稀土纯度分析的强大功能。 应用范围: 各种样品中低含量、微量和痕量的金属元素,以及部分
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高性能稀土材料比表面及孔径分析仪JW-BK200
高性能稀土材料比表面及孔径分析仪 JW-BK200C研究级超高性能双站比表面及微孔孔隙度分析仪,完全继承JW系列孔径分析仪所有技术特点,自主独特创新。该款仪器核心硬件全部采用国际先进品牌
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高分辨率ICP-OESPQ9000ICP-AES ICP法测试氧化镧中稀土和非稀土杂质
,消除了光谱干扰,RSD<3.9%;同一元素不同谱线的测定结果比对得较好;两个平行样也平行得较好,充分显示了PQ9000的高分辨率、高灵敏度、高稳定性和稀土纯度分析的强大功能。 应用范围: 各种样品
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