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双包层有源稀土掺杂光纤
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单包层有源稀土掺杂光纤
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EDS牛津仪器X-MaxN 高聚物掺杂及镀膜
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN可用于测定Polymers,适用于Characterisation项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于高分子材料行业领域
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牛津仪器AZtecFeature扫描电镜 高聚物掺杂及镀膜
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature可以用在高分子材料行业领域,用来检测Polymers,可完成Characterisation项目。符合多项行业标准Oxford
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EBSD牛津仪器 Symmetry 探测器 高聚物掺杂及镀膜
牛津仪器EBSD系统EBSD可以用在高分子材料行业领域,用来检测Polymers,可完成Characterisation项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 SEM-EDS
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珀金埃尔默LS-55荧光光谱仪激发态吸收
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Symmetry S2EBSD系统牛津仪器 高聚物掺杂及镀膜
牛津仪器Symmetry S2可用于测定Polymers,适用于Characterisation项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于高分子材料行业领域
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ICP-OESICP-AES iCAP PRO系列 可检测稀土球墨铸铁
赛默飞ICP-OES iCAP PRO系列用于测定合金钢,稀土球墨铸铁,La, Ce,P,B,Pb,As,Sn,符合行业标准。适用测定合金钢及 铸铁中 La、Ce、P、B、As、Pb、Sn 等元素
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耶拿ICP-AES 高分辨率ICP-OES 适用于稀土和非稀土杂质
耶拿ICP-AESPQ9000用于测定氧化镧,符合行业标准。适用稀土和非稀土杂质项目。 本文用HR-PQ9000,ICP法测定了4N5纯度氧化镧中稀土和非稀土杂质。数据表明,虽然试液含固量高达10g
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Ultim Extreme能谱探测器牛津仪器 高聚物掺杂及镀膜
牛津仪器X射线能谱仪EDSUltim Extreme用于测定Polymers,符合行业标准Oxford Instruments。适用Characterisation项目。 SEM-EDS
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