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牛津仪器Ultim Max硅漂移型探测器 纳米结构
Ultim Max采集效率可达以往的17倍,而且不会降低精度。无论您是想做更大区域的面扫描,或者在每个点分析中获得更好的统计数据,更快地采集数据,还是研究最小的纳米结构,Ultim Max都是
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X-MaxNEDS硅漂移探测器 应用于纳米材料
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硅漂移探测器牛津仪器EDS 应用于纳米材料
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN适用于Identifying contaminants in Li-Ion battery production using AZtecFeature项目,参考多项
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EDSX-MaxN硅漂移探测器 应用于纳米材料
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN可用于测定 Li-Ion battery,适用于Identifying contaminants in Li-Ion battery production using
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硅漂移探测器牛津仪器EDS 纳米材料生长和表征
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM可以用在高分子材料行业领域,用来检测Nano Material,可完成Nano Material项目。符合多项行业标准Oxford Instruments
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牛津仪器硅漂移探测器EDS 应用于纳米材料
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EDSX-MaxN硅漂移探测器 纳米材料生长和表征
牛津仪器EDSX-MaxN可用于测定Nano Material,适用于Nano Material项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于纳米材料行业领域。 纳米材料
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牛津仪器硅漂移探测器EDS 应用于纳米材料
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN适用于Nano Material项目,参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Nano Material等样品。可应用于生物质材料行业领域
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硅漂移探测器EDS牛津仪器 应用于纳米材料
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM可用于测定Nano Material,适用于Nano Material项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于高分子材料行业领域
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牛津仪器EDS硅漂移探测器 应用于纳米材料
快速获取元素分布图,包括实时背底扣除及重叠峰剥离处理X-MaxN TSR这种基于TEM应用的无窗硅漂移型探测器提供0.3至0.7球面度范围内的采集立体角。它对整个X射线能量范围内都有着非常好的采集效率
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