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电子探针EPMAEPMA-1720系列电子探针 玻璃条纹缺陷的SPM-EPMA分析
岛津电子探针EPMAEPMA-1720系列适用于 玻璃条纹缺陷的形貌及元素分析 项目,参考多项行业标准/ VBA。可以检测 玻璃 等样品。可应用于多个行业领域。 本文使用岛津扫描探针显微镜SPM和
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光学表面缺陷分析仪
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电子探针EPMA电子探针EPMA-1720系列 适用于 玻璃条纹缺陷的形貌及元素分析
岛津电子探针EPMA-1720系列用于测定 玻璃 ,符合行业标准/ VBA。适用 玻璃条纹缺陷的形貌及元素分析 项目。 本文使用岛津扫描探针显微镜SPM和电子探针EPMA对三类玻璃条纹缺陷进行了测试
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脉宽可调纳秒激光器(芯片缺陷检测用)
脉宽可调纳秒激光器(芯片缺陷检测用) 脉宽可调纳秒激光器(芯片缺陷检测用)脉宽可调纳秒激光器(芯片缺陷检测用)此系列激光器为单模激光器,通过内置从输入的TTL/
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帕克 NX-HDM 原子力显微镜 媒介自动缺陷检查
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帕克 NX-HDM 原子力显微镜 基体自动缺陷检查
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昊量光电激光剪切散斑干涉系统—NDT无损检测 用于结构缺陷无损检测
缺陷无损检测的高性价比方案。激光剪切散斑干涉系统工作流程:激光剪切散斑干涉系统硬件介绍:我们的解决方案是所有的光学模组和激光器集成在一个手持式,耐用和轻便的机壳中,接通电源,通过USB连接到电脑
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昊量光电高性价比光场相机 用于动力电池焊接缺陷检测
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HORIBA 堀场HORIBA能散型XRF 适用于品质控制,缺陷分析
堀场HORIBA能散型XRFXGT-7200V X射线分析显微镜用于测定树脂嵌入式芯片,柔性电路板,多层印刷版,符合行业标准0。适用品质控制,缺陷分析项目。 结合光学图像,高速高准确度进行元素测量
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表面视像缺陷检测系统
型号: isra本产品操作简单,使用便捷。 表面视像缺陷检测系统的主要优点:1、技术领先,60MHz高速行扫描CCD技术,每秒可最大扫描14,000次,防止漏验。2、独特的LED
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