-
牛津仪器Etch刻蚀工艺 应用硅
Pt—溅射刻蚀铂刻蚀Ti—超大刻蚀深度刻蚀Ta—刻蚀钽刻蚀W—刻蚀钨TiN的各向异性刻蚀—刻蚀氮化钛WSi刻蚀—硅化钨刻蚀有机物刻蚀PMMA—刻蚀聚甲基丙烯酸甲酯感应耦合等离子体刻蚀BCB—刻蚀苯并环
-
堀场HORIBA碳硫 硅铁中碳的测定
堀场HORIBAEMIA-920V2 高频红外碳硫分析仪可以用在地矿/有色金属行业领域,用来检测硅铁,可完成碳的测定 项目。符合多项行业标准0。 测试精度:碳:S ≤ 0.3ppm 或 RSD
-
EDS牛津仪器硅漂移探测器 失效分析
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN可用于测定Power Semiconductors,适用于Power Semiconductors项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments
-
牛津仪器硅漂移探测器EDS 可检测and
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM可用于测定Minerals and Metals,适用于Minerals and Metals项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments
-
硅漂移探测器EDS牛津仪器 可检测and
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM适用于Metals alloys and ceramics项目,参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Metals alloys
-
牛津仪器EDS硅漂移探测器 失效分析
牛津仪器EDSX-Max TEM可用于测定Power Semiconductors,适用于Power Semiconductors项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments
-
牛津仪器X-MaxN硅漂移探测器
X-MaxN硅漂移探测器大面积传感器芯片,采用数字信号处理和创新封装技术,可以提供很高灵敏度,精确分析几乎所有类型的样品,包括易碎样品和纳米材料。
-
牛津仪器Ultim Max硅漂移型探测器
Ultim Max是新一代硅漂移型探测器(SDD),配有大面积晶体和低噪音电子元器件,分析速度和探测灵敏性都有大幅提升。 Ultim Max采集效率可达以往的17倍,而且不会降低精度。无论您是
-
EDS硅漂移探测器牛津仪器 可检测Pollutant
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN可用于测定Pollutant Particles,适用于Pollutant Particles项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用
-
EDS牛津仪器硅漂移探测器 可检测Microstructure
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN用于测定Microstructure and Mechanical Properties,符合行业标准Oxford Instruments。适用
-
1.
沃特世国产液质联用系统首发,持续加码本土化布局
-
2.
安捷伦推出新型光谱流式细胞仪NovoCyte Opteon
-
3.
美国将37个中国实体列入“黑名单” 含一所高校 多家科研院所
-
4.
总投资539.82亿元 贵州发布第一批大规模设备更新清单
-
5.
浙大328亿排第二!全国高校2024年度预算经费出炉,24所高校破百亿
-
6.
江苏省大规模设备更新 2027年教育卫生仪器设备更新44万套以上
-
7.
拉曼光谱仪2024Q1市场分析| 科研之光VS监管之盾的双重选择
-
8.
42个领域 北京2024年首批设备购置与更新改造贷款贴息项目开始申报
-
9.
8分委 187人 国家药监局成立化妆品标准化技术委员会
-
10.
国办印发《关于创新完善体制机制 推动招标投标市场规范健康发展的意见》
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net