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牛津仪器EBSD系统 层状聚合物结构的成像与失效分析
行业领域。 层状聚合物结构的成像与失效分析 Symmetry S2是市场上真正的全能型EBSD探测器,它采用先进的CMOS技术是一款革命性的EBSD探测器。为所有EBSD应用提供优越的品质、灵活易用
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EBSD系统 Symmetry 探测器EBSD 层状聚合物结构的成像与失效分析
牛津仪器EBSD系统EBSD用于测定Polymer Materials,符合行业标准Oxford Instruments。适用Polymer Materials项目。 层状聚合物结构的成像与失效分析
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牛津仪器Cypher ESAsylumResearchAFM及扫描探针 层状聚合物结构的成像与失效分析
Polymer Materials项目。 层状聚合物结构的成像与失效分析 销售总监John Grenn说:“Asylum Research创新性的纳米力学扫描模式和环境控制能力使得Cypher ES
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X射线散射仪安东帕SAXSess mc^2 互配样品体系的结构的测定
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Azteclive牛津仪器能谱实时元素成像系统 层状聚合物结构的成像与失效分析
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安东帕SAXSpaceX射线散射仪小角X-射线散射仪 互配样品体系的结构的测定
。聚合物和纳米复合物:结晶度,周期性纳米结构,取向度等。液晶:周期性结构的尺寸和形状,取向度等。技术参数:测量范围:0.13 ~ 200 nmX-射线光源:标准:密封管(线聚焦和/或点聚焦),其它光源
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安东帕小角X-射线散射仪SAXSess mc^2 研究薄片层体系的内部结构
稳定性,胶囊试剂的传输动力学等。聚合物和纳米复合物:结晶度,周期性纳米结构,取向度等。液晶:周期性结构的尺寸和形状,取向度等。技术参数:测量范围:0.2 ~ 200 nmX-射线光源:标准:密封管(线
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Jupiter XR牛津仪器AsylumResearch大样品原子力显微镜JupiterXR 层状聚合物结构的成像与失效分析
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X射线能谱仪EDS能谱探测器Ultim Extreme 层状聚合物结构的成像与失效分析
样品。可应用于纳米材料行业领域。 层状聚合物结构的成像与失效分析 SEM中EDS分析高空间分辨率和低能端性能。将Extreme电子电路、无窗设计与几何结构和传感器的优化设计相结合,灵敏度比传统大面积
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AsylumResearchAFM及扫描探针牛津仪器Asylum Research Cypher原子力显微镜 层状聚合物结构的成像与失效分析
。 层状聚合物结构的成像与失效分析 SpotOn全自动激光耦合系统为您提供zei简单的操作。使用Cypher的全电动化激光和光学位置探测器,仅需要轻点鼠标就可以将激光光斑自动对焦到探针和光学
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