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Helios 5 DualBeam 双束扫描电镜
用于 TEM 和 STEM 成像或原子探针断层扫描的样品制备。产品可实现先进的自动化操作,简单易用,并且能够进行高质量的亚表面 3D 表征。
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Helios 5 EXL DualBeam双束扫描电镜
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TESCAN AMBER 镓离子型双束扫描电镜
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扫描电镜 双束加工观察系统日本电子 样本
点击查看下载扫描电镜 双束加工观察系统日本电子 样本相关资料,进一步了解产品。 JEOL是全世界电子光学仪器发展的引领者,近年推出的一系列全新的电子光学产品性能好,稳定性强且智能化程度高,操作
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DualBeam双束扫描电镜Helios 5 EXLFIB-SEM
。透射电子显微镜(TEM)正日益成为这种分析的首选技术,依赖于通过聚焦离子束(FIB)铣削生产的高质量样品。赛默飞世尔科技Helios5EXLDualBeam是一款300mm全晶圆聚焦离子束扫描
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FIB-SEMHelios 5 EXL DualBeam双束扫描电镜
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Helios 5 DualBeamFIB-SEM(原FEI) 双束扫描电镜
产品描述:新一代的赛默飞世尔科技Helios5DualBeam具有Helios5产品系列业界领先的高性能成像和分析性能。它是根据需求精心设计的,可满足材料科学研究人员和工程师对最广泛的FIB-SEM
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泰思肯 TESCAN AMBER X 高分辨氙离子源双束扫描电镜 束斑优化
TESCAN AMBER X 是完美结合了分析型等离子 FIB 和超高分辨(UHR)扫描电镜的综合分析平台,能够很好的应对传统的 Ga 离子 FIB-SEM 难以完成的困难挑战。
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泰思肯 TESCAN SOLARIS 超高分辨双束扫描电镜 更充分的利用离子束
TESCAN SOLARIS 是一款镓离子源的超快速FIB-SEM 系统,即聚焦离子束-扫描电子束双束系统,适用于超薄 TEM 样品制备和其他具有挑战性的纳米加工任务。
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赛默飞FIB-SEM DualBeam双束扫描电镜 样本
点击查看下载赛默飞FIB-SEM DualBeam双束扫描电镜 样本相关资料,进一步了解产品。 描述300mm全晶圆聚焦离子束扫描电子显微镜类型FIB-SEM分辨率1.0 nm @ 15 kV
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