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分子荧光堀场HORIBADeltaPro/DeltaFlex 高精度荧光寿命测试系统 荧光寿命:时域荧光或频域荧光
堀场HORIBADeltaPro/DeltaFlex 高精度荧光寿命测试系统用于测定时域荧光,频域荧光,符合行业标准0。适用荧光寿命项目。 HORIBA Scientific(Jobin Yvon
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荧光寿命测试系统堀场HORIBA分子荧光 适用于寿命衰减
堀场HORIBA分子荧光FluoroCube / UltraFast适用于寿命衰减项目,参考多项行业标准0。可以检测NATA等样品。可应用于蛋白行业领域。 • 激发/发射单色仪
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LIFA荧光寿命系统附件
LIFA荧光寿命系统附件LIFA是适用于荧光寿命显微成像(FLIM)。该设备可以利用频域技术在任何宽场显微荧光成像系统获得寿命变化相关图像。系统包含TRiCAM M可调制型像增强CCD相机,可调
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FluoroCube / UltraFast荧光寿命测试系统
荧光寿命光谱是研究样品受激后辐射出的紫外,可见,或近红外荧光与时间的变化。可利用荧光的衰减测定皮秒到秒,或更长的寿命范围。
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DynaMyc 荧光寿命成像显微系统
HORIBA科学仪器部是荧光光谱仪的领导者,推出的DynaMyc是基于滤光片式,全自动共焦显微镜系统,可在微观尺寸下测试荧光寿命和强度。
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堀场HORIBA分子荧光 适用于荧光寿命
堀场HORIBADeltaPro/DeltaFlex 高精度荧光寿命测试系统可用于测定时域荧光,频域荧光,适用于荧光寿命项目。并且参考多项行业标准0。可应用于多个行业领域。 HORIBA
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荧光寿命测试系统FluoroCube / UltraFast分子荧光 可检测NATA
堀场HORIBA分子荧光FluoroCube / UltraFast适用于寿命衰减项目,参考多项行业标准0。可以检测NATA等样品。可应用于蛋白行业领域。 HORIBA Scientific
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荧光寿命测试系统FluoroCube / UltraFast分子荧光 应用于蛋白
堀场HORIBA荧光寿命测试系统FluoroCube / UltraFast可用于测定NATA,适用于寿命衰减项目。并且参考多项行业标准0。可应用于蛋白行业领域。 • 激发/发射单色仪
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DeltaPro/DeltaFlex 高精度荧光寿命测试系统
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荧光寿命成像超快光谱测试系统
研究等等。卓立汉光的超快光谱测试系统,根据用户需求基于RTS显微系统,灵活搭建飞秒激光器、条纹相机、荧光寿命成像、飞秒瞬态吸收成像等超快模块,为超快化学及激发态动力学理论研究以及超快化学、物理和生物等
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