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薄膜太阳能电池材料光谱响应测量系统
薄膜太阳能电池材料光谱响应测量系统 ■ 光谱测量范围:200-1100nm ■ 测量重复性:≤3%(主要波长位置) ■ 光源:高稳定、高输出能量
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红外安捷伦Agilent Cary 手持式傅立叶变换红外光谱仪 可检测涂层,薄膜,太阳能,玻璃
安捷伦红外4300适用于反射率,透射率项目,参考多项行业标准。可以检测涂层,薄膜,太阳能,玻璃等样品。可应用于高分子材料行业领域。 无论是对涂层、薄膜、太阳能或玻璃等高端材料进行研究、开发或是 QA
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芯硅谷 PVC薄膜
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薄膜,片材在线测厚仪
仪器简介:热电瑞美公司RM200在线测量和控制系统是专门设计应用于薄膜生产线,可以在线测量薄膜的厚度,并反馈信号自动控制模头螺栓,使薄膜厚度均匀,提高产品质量,降低原材料消耗。热电瑞美公司在上海建有
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紫外/可见/近红外分光光度计 珀金埃尔默LAMBDA 1050 可检测光学器件,薄膜,太阳能面板,建筑玻璃
珀金埃尔默紫外LAMBDA 1050可用于测定光学器件,薄膜,太阳能面板,建筑玻璃,适用于材料表征项目。并且参考多项行业标准。可应用于纺织/印染行业领域。 材料表征 — 从光学器件、薄膜到太阳能
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奥谱天成ATGX310系列 光学薄膜厚度测量仪 适合测量太阳能膜厚测量
光学薄膜厚度测量系统,是利用薄膜反射光干涉的原理,对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。
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紫外-可见-近红外分光光度计珀金埃尔默LAMBDA 1050+ 可检测光学器件,薄膜,太阳能面板,建筑玻璃
珀金埃尔默紫外-可见-近红外分光光度计LAMBDA 1050+用于测定光学器件,薄膜,太阳能面板,建筑玻璃,符合行业标准。适用材料表征项目。 材料表征 — 从光学器件、薄膜到太阳能面板和建筑玻璃都
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安东帕小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
点击查看下载安东帕小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料,进一步了解产品。 目前,在未来能量转换和存储体系中,对介孔材料薄膜进行了广泛的研究
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SAXSess mc^2安东帕小角X-射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
点击查看下载SAXSess mc^2安东帕小角X-射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料,进一步了解产品。 目前,在未来能量转换和存储体系中,对介孔材料薄膜进行了广泛的
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实验室光束线装置安东帕X射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
点击查看下载 实验室光束线装置安东帕X射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料,进一步了解产品。 目前,在未来能量转换和存储体系中,对介孔材料薄膜进行了广泛的研究。由于这些
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