-
安东帕UNHT³ HTV高温高真空超纳米压痕仪 测量薄膜到块状材料
高温超纳米压痕测试仪 (UNHT3 HTV)全球真正意义的商品化的高温高真空超纳米压痕仪,主要测量小载荷下纳米尺度机械性能的测试系统,温度在 800 °C 以下的薄膜和涂层的硬度和弹性模量。专利
-
芯硅谷 PVC薄膜
-
Zeta电位DelsaNano C薄膜分布分析仪 应用于纳米材料
点击查看下载Zeta电位DelsaNano C薄膜分布分析仪 应用于纳米材料相关资料,进一步了解产品。 贝克曼库尔特公司的 固体及薄膜表面Zeta电位分析仪,型号:DelsaNano C/Solid
-
薄膜,片材在线测厚仪
仪器简介:热电瑞美公司RM200在线测量和控制系统是专门设计应用于薄膜生产线,可以在线测量薄膜的厚度,并反馈信号自动控制模头螺栓,使薄膜厚度均匀,提高产品质量,降低原材料消耗。热电瑞美公司在上海建有
-
薄膜太阳能电池材料光谱响应测量系统
薄膜太阳能电池材料光谱响应测量系统 ■ 光谱测量范围:200-1100nm ■ 测量重复性:≤3%(主要波长位置) ■ 光源:高稳定、高输出能量
-
贝克曼库尔特Zeta电位薄膜Zeta电位分布分析仪 可检测材料表面
贝克曼库尔特Zeta电位DelsaNano C可以用在纳米材料行业领域,用来检测材料表面,可完成固体(或薄膜)与液体之介面Zeta电位项目。符合多项行业标准。 贝克曼库尔特公司的 固体及薄膜表面
-
安东帕小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
点击查看下载安东帕小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料,进一步了解产品。 目前,在未来能量转换和存储体系中,对介孔材料薄膜进行了广泛的研究
-
SAXSess mc^2安东帕小角X-射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
点击查看下载SAXSess mc^2安东帕小角X-射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料,进一步了解产品。 目前,在未来能量转换和存储体系中,对介孔材料薄膜进行了广泛的
-
DelsaNano C贝克曼库尔特薄膜分布分析仪 应用于高分子材料
点击查看下载DelsaNano C贝克曼库尔特薄膜分布分析仪 应用于高分子材料相关资料,进一步了解产品。 贝克曼库尔特公司的 固体及薄膜表面Zeta电位分析仪,型号:DelsaNano C
-
薄膜Zeta电位分布分析仪贝克曼库尔特Zeta电位 应用于生物质材料
贝克曼库尔特Zeta电位DelsaNano C参考多项行业标准。完成材料表面的检测。可以用在高分子材料行业领域中的固体(或薄膜)与液体之介面Zeta电位项目。 贝克曼库尔特公司的 固体及薄膜表面
-
1.
质谱中标盘点 三个品牌占据一半市场
-
2.
2023仪器产业营收超1万亿,这些仪器公司增长显著
-
3.
阿尔塔科技质量总监徐银分享:质谱领域全面探讨,临床质谱前沿揭秘
-
4.
天津发布推动大规模设备更新和消费品以旧换新实施方案
-
5.
青岛启动国家重点研发计划科学仪器项目
-
6.
被印度“围剿”的中国CAR-T:不仅是药企不“争气”
-
7.
“天都”来袭,国仪量子比表面积及孔径分析仪Climber 60震撼发布
-
8.
关于批准发布《电动自行车用锂离子蓄电池安全技术规范》强制性国家标准的公告
-
9.
关于筹备中国检验检测学会青年科技工作者委员会委员的通知
-
10.
最新!国家室间质评部分项目评价方法大调整
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net