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理学 Ultima IV 多功能X射线衍射仪 薄膜样品分析
射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统,一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构,通过对各个单元的不同组合,可以进行各种测试。技术参数:1. X
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芯硅谷 PVC薄膜
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薄膜,片材在线测厚仪
仪器简介:热电瑞美公司RM200在线测量和控制系统是专门设计应用于薄膜生产线,可以在线测量薄膜的厚度,并反馈信号自动控制模头螺栓,使薄膜厚度均匀,提高产品质量,降低原材料消耗。热电瑞美公司在上海建有
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ARL Optim’X赛默飞波散型XRF 可检测块状固体,液体,松散粉末,不规则样品,滤纸,薄膜
赛默飞波散型XRFARL Optim’X可以用在地矿/有色金属行业领域,用来检测块状固体,液体,松散粉末,不规则样品,滤纸,薄膜 ,可完成元素分析项目。符合多项行业标准。 ThermoFisher
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安东帕小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
点击查看下载安东帕小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料,进一步了解产品。 目前,在未来能量转换和存储体系中,对介孔材料薄膜进行了广泛的研究
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SAXSess mc^2安东帕小角X-射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
点击查看下载SAXSess mc^2安东帕小角X-射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料,进一步了解产品。 目前,在未来能量转换和存储体系中,对介孔材料薄膜进行了广泛的
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赛默飞 X射线荧光光谱仪能散型XRF 可检测块状固体,液体,松散粉末,不规则样品,滤纸,薄膜
赛默飞 X射线荧光光谱仪ARL 9900可以用在煤炭行业领域,用来检测块状固体,液体,松散粉末,不规则样品,滤纸,薄膜 ,可完成元素分析项目。符合多项行业标准。 ThermoFisher ARL
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实验室光束线装置安东帕X射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
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日本电子IB-09060CIS低温冷冻离子切片仪 制作出薄膜样品
产品特点:带有样品冷却系统,对容易受热损伤的样品也可以进行截面制备的离子切片仪。①通过液氮制冷,减轻了离子照射时对样品造成的热损伤。②可以用于制备TEM的薄膜样品和SEM的截面样品*③冷却保持时间长
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薄膜分布分析仪贝克曼库尔特DelsaNano C 固体及薄膜表面分析仪
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拉曼光谱仪2024Q1市场分析| 科研之光VS监管之盾的双重选择
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