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X光电子能谱XPSAXIS SUPRA+岛津 可检测石墨烯薄膜
岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+可以用在多个行业领域,用来检测石墨烯薄膜 ,可完成厚度 项目。符合多项行业标准/ VBA。 石墨烯在材料学、微纳加工、能源、生物医学和药物
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芯硅谷 PVC薄膜
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薄膜,片材在线测厚仪
仪器简介:热电瑞美公司RM200在线测量和控制系统是专门设计应用于薄膜生产线,可以在线测量薄膜的厚度,并反馈信号自动控制模头螺栓,使薄膜厚度均匀,提高产品质量,降低原材料消耗。热电瑞美公司在上海建有
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/Kratos X射线光电子能谱仪岛津AXIS SUPRA+ 岛津XPS技术表征石墨烯薄膜的厚度
岛津X光电子能谱XPSAXIS SUPRA+适用于厚度 项目,参考多项行业标准/ VBA。可以检测石墨烯薄膜 等样品。可应用于多个行业领域。 石墨烯在材料学、微纳加工、能源、生物医学和药物传递等方面
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安东帕小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
。由于这些薄膜具有多孔的材料特性,可以获得用于电子传递的高界面表面积。控制这些界面结构对这类体系性能是至关重要的。 仪器简介:SAXSpace(Small & Wide Angle X-Ray
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SAXSess mc^2安东帕小角X-射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
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日本电子IB-09060CIS低温冷冻离子切片仪 制作出薄膜样品
产品特点:带有样品冷却系统,对容易受热损伤的样品也可以进行截面制备的离子切片仪。①通过液氮制冷,减轻了离子照射时对样品造成的热损伤。②可以用于制备TEM的薄膜样品和SEM的截面样品*③冷却保持时间长
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实验室光束线装置安东帕X射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
薄膜具有多孔的材料特性,可以获得用于电子传递的高界面表面积。控制这些界面结构对这类体系性能是至关重要的。 关键功能在最短的测量时间内提供出色的数据质量SAXSpoint 5.0 采用高光谱纯度和无
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日本电子RF-120系列高频电源 离子镀等薄膜制造和加工
)×305毫米(深)×145毫米(高)这是用于等离子体生成的13.56MHz高频电源(RF电源),用于溅射、蚀刻、CVD和离子镀等薄膜制造和加工。RF-120系列是多功能电源,标配DeviceNet
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日本电子SightSKY Camera 光纤耦合CMOS相机 可识别叶绿体和线粒体的薄膜结构
Si3N4高分辨率TEM图像“数码变焦”可确保成像清晰,在晶格分辨率下同样表现优异。 Al72 Fe24 Ni4十二边形准晶体高分辨率TEM图像和电子衍射图像利用“数码变焦”功能可以
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