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EBSD系统 Symmetry 探测器EBSD 层状聚合物结构的成像与失效分析
理想之选。快速和高灵敏度,可以兼得。 CMOS采用低束流,高速度,高分辨率来获得完美的应用结果。易用性 一个探测器适合所有的应用:探测器倾斜调整、动态校准、自动设置、与EDS无缝集成等特点,保证
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Symmetry 探测器牛津仪器EBSD系统 工艺矿物学与化学分析
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X-MaxNEDS硅漂移探测器 工艺矿物学与化学分析
能谱仪因其独特地外置型FET场效应管设计,X-MaxN 的分辨率完全不受晶体面积变化的影响始终如一,且保证全部具有优异的低能端检测性能探测器外管尺寸相同,意味着相同条件下,计数率仅与晶体面积有关保证
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X-Max TEM硅漂移探测器EDS 工艺矿物学与化学分析
牛津仪器EDSX-Max TEM用于测定Minerals and Metals,符合行业标准Oxford Instruments。适用Minerals and Metals项目。 工艺矿物学与
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国仪量子 量子光学实验平台 单光子制备与探测实验
国仪量子 量子光学实验平台 量子光学实验平台采用BBO参量下转换、单光子探测等技术,可开展量子纠缠源制备与验证、量子随机数产生等实验。同时硬件模块支持手动搭建和调试,桌面型的设计让它能适应各种不同的
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Ultim ExtremeX射线能谱仪EDS能谱探测器 工艺矿物学与化学分析
样品。可应用于地矿/有色金属行业领域。 工艺矿物学与化学分析 Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破,可提供远远超越传统微米和纳米分析的解决方案。Ultim
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Agilent ICP-OES5110安捷伦 Agilent同步双向观测 ICP-OES
点击查看下载Agilent ICP-OES5110安捷伦 Agilent同步双向观测 ICP-OES相关资料,进一步了解产品。 Agilent 5110 同步垂直双向观测 (SVDV
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X射线能谱仪EDS能谱探测器Ultim Extreme 层状聚合物结构的成像与失效分析
样品。可应用于纳米材料行业领域。 层状聚合物结构的成像与失效分析 SEM中EDS分析高空间分辨率和低能端性能。将Extreme电子电路、无窗设计与几何结构和传感器的优化设计相结合,灵敏度比传统大面积
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天瑞仪器 LDAR(泄漏检测与修复)检测 探测者-便携式总烃检测仪 VOC-5000
探测者便携式总烃检测仪采用氢火焰离子化检测器(FID)和光离子化检测器(PID)双检测器,FID检测器对几乎所有VOCs都有响应和PID检测器对大部分VOCs有响应及对部分无机物有响应。
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牛津仪器Andor iKon-XL CCD相机 天文观测相机
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