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美国TA DLF 2800 激光导热仪 用于电子领域
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准费米能级分裂测试仪 HiYield-QFLS
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日本电子SXES软X射线分析谱仪
一样可以并行检测,并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的极高能量分辨率进行分析,超过了WDS的能量分辨率。产品特点:软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission
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日本电子SXES软X射线分析谱仪 氮素化合物的测试
并行检测,并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的极高能量分辨率进行分析,超过了WDS的能量分辨率。系统简介zei新开发设计的分光系统,不需移动衍射光栅或检测器(CCD)就能同时获取不同能量的谱图
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日本电子SXES软X射线分析谱仪 SXES、WDS、EDS的比较
数学方法处理。如下图所示,SXES具有很高的能量分辨率。比较表特征SXESEPMA(WDS)EDS分辨率0.3 eV(费米边处 Al-L)8 eV (FWHM@Fe-K)120-130 eV
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日本电子SXES软X射线分析谱仪 轻元素的测试
中氮化钛样品的谱图即使在WDS分析中氮化钛的谱峰也發生重叠,需要采取去卷积的数学方法处理。如下图所示,SXES具有很高的能量分辨率。比较表特征SXESEPMA(WDS)EDS分辨率0.3 eV(费米边
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日本电子SXES软X射线分析谱仪 锂离子二次电池(LIB)分析
,需要采取去卷积的数学方法处理。如下图所示,SXES具有很高的能量分辨率。比较表特征SXESEPMA(WDS)EDS分辨率0.3 eV(费米边处 Al-L)8 eV (FWHM@Fe-K
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SXES软X射线分析谱仪
一样可以并行检测,并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的极高能量分辨率进行分析,超过了WDS的能量分辨率。产品特点:软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission
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日本NTT——费米能级可控势垒(FMB)二极管
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SKP370/470扫描卡尔文探针测试系统
扫描卡尔文探针系统SKP370,是一种无接触,无破坏性的仪器,可以用于测量导电,涂膜,或半导体材料,与样品探针之间的功函差。
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