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比表面积及孔径\隙度分析仪BSD-PM
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卓立汉光宽带隙小型深紫外PL-Mapping(光致发光)光谱仪
仪器简介: 光致荧光光谱测量是半导体材料特性表征的一个被普遍认可的重要测量手段。MiniPL为模块化设计、计算机自动控制的高灵敏度、宽带隙小型PL(光致荧光)光谱仪
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Acktar 涂黑气隙
Acktar 涂黑气隙宽带低反射率镀膜从EUV 到 SWIR 吸光度 99%缝隙尺寸低至 25μm x 3mm备有未封装和已封装版通用规格外径 (mm):9.53 ±0.1构造 :Stainless
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贝士德BSD-PM比表面积及孔径\隙度分析仪
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贝士德BSD-PM比表面积及孔径\隙度分析仪 测试材料孔径分布
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卓立汉光宽带隙小型深紫外PL-Mapping(光致发光)光谱仪 应用于科研领域
卓立汉光宽带隙小型深紫外PL-Mapping(光致发光)光谱仪 应用于科研领域仪器简介: 光致荧光光谱测量是半导体材料特性表征的一个被普遍认可的重要测量手段。MiniPL为
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贝士德BSD-PM比表面积及孔径\隙度分析仪 测试材料总孔容
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贝士德BSD-PM比表面积及孔径\隙度分析仪 测试吸附脱附数据
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空气隙零级1/2延迟片
λ/2和的空气隙零级波片库存标准元件,这种空气隙零级波片是由两片石英波片通过支架固定而成,其光轴正交,因两片石英波片的厚度差异而使其在应用中能产生零级相位延迟。这种空气隙零级波片具有对宽温度变化范围
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空气隙零级1/4延迟片
λ/2和的空气隙零级波片库存标准元件,这种空气隙零级波片是由两片石英波片通过支架固定而成,其光轴正交,因两片石英波片的厚度差异而使其在应用中能产生零级相位延迟。这种空气隙零级波片具有对宽温度变化范围
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