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电子探针EPMAEPMA-1720系列电子探针 玻璃条纹缺陷的SPM-EPMA分析
岛津电子探针EPMAEPMA-1720系列适用于 玻璃条纹缺陷的形貌及元素分析 项目,参考多项行业标准/ VBA。可以检测 玻璃 等样品。可应用于多个行业领域。 本文使用岛津扫描探针显微镜SPM和
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铸造铝测氢仪
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铸造铝测氢仪
,采用快速降压技术使铝液在受控固化过程中释放出全部氢气,通过精确标定的皮拉尼真空计测定氢含量。 仪器应用 用于铝和铝合金铸造、加工行业质量控制和材料研究,是评估除气效果、熔融铝液质量和熔炼
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光学表面缺陷分析仪
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电子探针EPMA电子探针EPMA-1720系列 适用于 玻璃条纹缺陷的形貌及元素分析
岛津电子探针EPMA-1720系列用于测定 玻璃 ,符合行业标准/ VBA。适用 玻璃条纹缺陷的形貌及元素分析 项目。 本文使用岛津扫描探针显微镜SPM和电子探针EPMA对三类玻璃条纹缺陷进行了测试
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帕克 NX-HDM 原子力显微镜 媒介自动缺陷检查
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帕克 NX-HDM 原子力显微镜 基体自动缺陷检查
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熔炼铸造炉
VIMC-150熔炼铸造炉适用于铂、钯、钛、黄金、K金、银和铜等金属铸造,广泛应用于学校、实验室、珠宝首饰、牙科铸造和工艺品铸造等相关行业领域,采用智能西门子控制系统 ,可连续24小时工作;在真空和
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HORIBA 堀场HORIBA能散型XRF 适用于品质控制,缺陷分析
堀场HORIBA能散型XRFXGT-7200V X射线分析显微镜用于测定树脂嵌入式芯片,柔性电路板,多层印刷版,符合行业标准0。适用品质控制,缺陷分析项目。 结合光学图像,高速高准确度进行元素测量
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国仪量子SEM3200扫描电镜 适用于表面缺陷和结构形状
国仪量子 扫描电子显微镜 SEM3200可用于测定光伏电池,适用于表面缺陷和结构形状项目。并且参考多项行业标准太阳能电池绒面的研究。可应用于电子/半导体行业领域。 五分割半导体背散射探测器——多
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