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Ultim Extreme 硅漂移探测器
Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破,可提供远远超越传统微米和纳米分析的解决方案。Ultim Extreme是Ultim Max系列中的一款无窗能谱,晶体
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EDS牛津仪器硅漂移探测器 失效分析
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN可用于测定Power Semiconductors,适用于Power Semiconductors项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments
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牛津仪器硅漂移探测器EDS 可检测and
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM可用于测定Minerals and Metals,适用于Minerals and Metals项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments
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硅漂移探测器EDSX-MaxN 可检测and
牛津仪器EDSX-MaxN可用于测定Metals alloys and ceramics,适用于Metals alloys and ceramics项目。并且参考多项行业标准Oxford
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硅漂移探测器EDS牛津仪器 可检测and
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM适用于Metals alloys and ceramics项目,参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Metals alloys
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牛津仪器EDS硅漂移探测器 失效分析
元素分布图,包括实时背底扣除及重叠峰剥离处理X-MaxN TSR这种基于TEM应用的无窗硅漂移型探测器提供0.3至0.7球面度范围内的采集立体角。它对整个X射线能量范围内都有着非常好的采集效率,尤其是
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牛津仪器X-MaxN硅漂移探测器
X-MaxN硅漂移探测器大面积传感器芯片,采用数字信号处理和创新封装技术,可以提供很高灵敏度,精确分析几乎所有类型的样品,包括易碎样品和纳米材料。
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牛津仪器Ultim Max硅漂移型探测器
Ultim Max是新一代硅漂移型探测器(SDD),配有大面积晶体和低噪音电子元器件,分析速度和探测灵敏性都有大幅提升。 Ultim Max采集效率可达以往的17倍,而且不会降低精度。无论您是
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硅漂移探测器EDSX-MaxN 可检测and
牛津仪器EDSX-MaxN可用于测定Microstructure and Mechanical Properties,适用于Microstructure and Mechanical
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SDD硅漂移探测器
SDD探测器SDD探测器广泛的应用于XRF分析仪器制备,科学研究以及宇宙探索等诸多领域。按照产品的功能分类,SDD的探测器分为 VIAMP,VICO-DV, AXAS-A/D,AXAS-M、五个系列
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