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黑硅光电探测器
ElFys 提供一系列高性能黑硅光电二极管。该光电探测器是通过采用表面纳米结构技术与原子层沉积涂层相结合,大大提高了光收集效率。在 200 nm 至 950 nm 范围内具有近乎完美的光响应
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黑碳分析仪
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EDS牛津仪器硅漂移探测器 材料成分和结构
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM适用于Metals alloys and ceramics项目,参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Metals alloys
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硅漂移探测器牛津仪器EDS 材料成分和结构
。 材料成分和结构 仪器简介:X-MaxN 的晶体尺寸从适合于微米分析的20 mm2到纳米材料分析专用150 mm2的共四种可选。尤其是150 mm2为当今晶体面积zei大的探测器,分析速度至少是普通
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X-MaxNEDS硅漂移探测器 应用于纳米材料
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硅漂移探测器牛津仪器EDS 应用于纳米材料
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN适用于Identifying contaminants in Li-Ion battery production using AZtecFeature项目,参考多项
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EDSX-MaxN硅漂移探测器 应用于纳米材料
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN可用于测定 Li-Ion battery,适用于Identifying contaminants in Li-Ion battery production using
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硅漂移探测器牛津仪器EDS 纳米材料生长和表征
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM可以用在高分子材料行业领域,用来检测Nano Material,可完成Nano Material项目。符合多项行业标准Oxford Instruments
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牛津仪器硅漂移探测器EDS 应用于纳米材料
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EDSX-MaxN硅漂移探测器 纳米材料生长和表征
牛津仪器EDSX-MaxN可用于测定Nano Material,适用于Nano Material项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于纳米材料行业领域。 纳米材料
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