系,任助教、助理研究员。1991年6月-2005年12月赴日本ULVAC-PHI 株式会社表面分析室工作,历任俄歇电子能谱(AES)、X射线光电子能谱(XPS)、二次离子质谱(SIMS)分析实验室主事(专家)。2006年1月至今被人才引进至...
清华大学分析中心高级工程师
、维也纳工业大学、俄斯特拉发工业大学、创意艺术大学、法纳姆(英国)、墨西哥城、香港保利、NTNU)、清华大学、在飞利浦全球各个部门和部门以及其他公司。由于他在生态设计方面的工作,他获得了艺术与设计大学的荣誉学位。由于他在电子产品回收领域的贡献,他获得了国际电子回收会议组织颁发的“Cowbell 奖”。...
荷兰代尔夫特理工大学教授
201410174513.4;已授权;中国国家标准:[1] 姚文清; 段建霞; 杨立平; 王雅君; 李展平; 徐同广; 王岩华 ; 表面化学分析 深度剖析用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法...
中国石油大学副研究员
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