扫描探针显微镜/SPM(原子力显微镜)
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岛津SPM-8100FM高分辨率原子力显微镜
岛津
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安捷伦5500AFM/SPM
安捷伦
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牛津仪器MFP-3D-BIO™原子力显微镜
牛津仪器
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国仪量子 国产量子钻石原子力显微镜 QDAFM
国仪量子
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Bruker第八代多功能扫描探针显微镜
布鲁克纳米表面
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SmartSPM 原子力显微镜
HORIBA Scientific
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Nanosurf AFSEM™真空环境用原子力显微镜
优尼康
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小型台式原子力显微镜
佰司特
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nGauge便携式原子力显微镜
培科创新
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多功能材料微区原位表征系统-FusionScope
Quantum Design中国子公司
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显微结构表征
显微结构表征是指通过显微镜等仪器来研究无机材料、复合材料、各种新材料等的显微组织大小、形貌、分布、数量的一种方法。 常见的设备有SEM、TEM、AFM、FIB等。
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微谱第三方检测机构 大型仪器测试AFM 材料成分分析性能改进化工
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锂离子电池正极材料分析
形貌分析,还可以分析样品的晶体结构。有时根据材料形貌的特殊要求,也用到扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)。锂离子电池正极材料的比表面积与材料的加工性能有关。因此比表面积分析也是锂离子电池
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原子力显微镜维修服务
(1)我们有充足的配件提供3a、IV、V型控制器维修(2)我们提供Multimode系列、Dimension系列AFM维修(3)维修型号:Dimension3000、Dimension3100
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原子力显微镜、探针/针尖相关技术的测试服务
原子力显微镜测试服务包括: 超高分辨率、超高一致性的表面形貌测试 (Topography imaging) 稳定可靠的纳米尺度的导电性能测试 (EFM,C-AFM, SCM, Tuna, KFM
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纳米材料的表征
23413-2009)2.3 扫描电镜表征(GB/T 20307-2006)2.4 纳米颗粒溶液分散状态表征(ASTM E2490-09)2.5 纳米材料 AFM 表征(ASTM E2859-11
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纳米材料的表征
表征(GB/T 20307-2006)2.4 纳米颗粒溶液分散状态表征(ASTM E2490-09)2.5 纳米材料 AFM 表征(ASTM E2859-11)2.6 纳米材料表面电荷测量(ASTM
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半导体材料微结构分析与评价
显微镜(AFM)表面形貌观察。相关资质CNAS服务背景随着大规模集成电路的不断发展,芯片制程工艺日趋复杂,半导体材料微结构及成分异常阻碍着芯片良率的提高,为半导体及集成电路新工艺的实施带来了极大的挑战
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振动样品磁强计
NanoMagnetics 仪器 1998年在牛津成立, 作为原子力显微镜 AFM 制造商, 主营环境扫描探针显微镜, 低温扫描探针显微镜, 霍尔效应测量系统, 振动样品磁强计等, 适用于产品表面特征
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纳米产品安全性检测
纳米颗粒溶液分散状态表征(ASTM E2490-09)2.5 纳米材料 AFM 表征(ASTM E2859-11)2.6 纳米材料表面电荷测量(ASTM E2865-12)2.7 内毒素(#139
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联系邮箱: sales@antpedia.net