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电子电离
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透射电镜
透射电镜Transmission Electron Microscope, 简称TEM,透射电镜可以观察样品的内部精细结构,这些结构即亚显微结构或者超微结构。透射电镜使用的是透射电子,并收集透过样品
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扫描电镜
透射电镜&扫描电镜实验介绍:透射电子显微镜(transmission electron microscope,TSE)是利用透射电子成像,因而要求样品
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透射电镜&扫描电镜
实验介绍 透射电子显微镜(transmission electron microscope,TSE)是利用透射电子成像,因而要求样品极薄厚度不能超100nm。其结构包括三大部分
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透射电镜(TEM
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向
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电子显微成像
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透射电镜服务
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构,这些结构称为亚显微结构或超微结构。
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透射电镜检测
实验简介:透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),是一种以高能电子束为照明源,通过电磁透镜将穿透样品的电子(即透射电子)聚焦成像的电子光学
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透射显微与扫描透射
透射显微与扫描透射 显微成像扫描透射电子显微镜(scanning transmission electron microscopy,STEM)既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜
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电子顺磁共振波谱(EPR
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