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微谱 未知气体含量分析 ( 二氧化硫、氮氧化物、颗粒物
生产过程中,特别是在存在化学反应的生产过程中,仅仅根据温度、压力、流量等物理参数进行自动控制往往是不够的。根据分析气体的千差万别和分析原理的多样性,气体分析仪的种类多种多样。常用的有热传导式气体分析仪
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微谱 未知气体成分分析 ( 二氧化硫、氮氧化物、颗粒物
方法。下面为大家介绍相关知识检测内容气体成分检测方法 1.催化燃烧式气体的传感器利用催化燃烧的热效应原理,在一定的温度条件下,可燃少的气体在检测元件载体表面及催化剂的作用下发生无焰燃烧,输出
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微谱建筑材料检测机构公司 半导体材料XPS测试 MSDS/ROHS认证 失效分析
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半导体分立器件AEC-Q101认证试验
AEC-Q101对对各类半导体分立器件的车用可靠性要求进行了梳理。AEC-Q101试验不仅是对元器件可靠性的国际通用报告,更是打开车载供应链的敲门砖。 广电计量在SiC第三代半导体器件的AEC-Q
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微谱 胺固体检测 (凝固点、沸点、比重、浓度、杂质等
认证资质:检测价格:电议检测周期:7-15天检测类型:标准检测送样方式:快递邮寄领域分类:材料-半导体材料检测项目:限用物质含量,成分分析服务地点:全国服务背景胺是指氨分子中的一个或多个氢原子被烃基
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微谱 管材燃烧速率检测 ( 物理性能:拉伸强度、弯曲强度、摩擦系数
认证资质:检测价格:电议检测周期:7-15天检测类型:标准检测送样方式:快递邮寄领域分类:材料-半导体材料检测项目:限用物质含量服务地点:全国服务背景 管材是我们在建筑使用中或者其他地方用到比较多的
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AEC-Q101认证试验
广电计量在SiC第三代半导体器件的AEC-Q认证上具有丰富的实战经验,为您提供专业可靠的AEC-Q101认证服务,同时,我们也开展了间歇工作寿命(IOL)、HAST、H3TRB、HTRB、HTGB
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电失效分析EFA
通过对半导体元件的电性量测,可以验证其参数及特性,例如电压-电流、电容-电压特性曲线、电阻、电容等,借此以推测元件可能的故障原因,并决定后续的测试方案。 常用设备:I/V、TLP
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晶圆
指制作硅半导体电路所用的硅晶片,其原始材料主要是是硅,微谱可以通过VPD-ICPMSMS、ICPMSMS、IC等对晶圆表面的污染物做出准确测定。 常用设备:VPD-ICPMSMS、ICPMSMS、IC
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物理性能测试
常用设备:台阶仪、椭偏仪、轮廓仪、霍尔效应测试仪、接触角测量仪、激光粒度仪、水分测定仪、比表面积及孔隙度分析仪、伏安特性测试系统、半导体特性探针台、阻抗分析仪等
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