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微谱 未知气体成分分析 ( 二氧化硫、氮氧化物、颗粒物
综合的分离、纯化技术处理待测样品,得到的各组分再采用不同的分析仪器设备进行定性定量分析,最终确定未知物的名称及含量。然后分别采用不同的分析仪器设备对其进行分析、鉴定并最终确定其未知样品的名称、含量的
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电失效分析EFA
通过对半导体元件的电性量测,可以验证其参数及特性,例如电压-电流、电容-电压特性曲线、电阻、电容等,借此以推测元件可能的故障原因,并决定后续的测试方案。 常用设备:I/V、TLP
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晶圆
指制作硅半导体电路所用的硅晶片,其原始材料主要是是硅,微谱可以通过VPD-ICPMSMS、ICPMSMS、IC等对晶圆表面的污染物做出准确测定。 常用设备:VPD-ICPMSMS、ICPMSMS、IC
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物理性能测试
常用设备:台阶仪、椭偏仪、轮廓仪、霍尔效应测试仪、接触角测量仪、激光粒度仪、水分测定仪、比表面积及孔隙度分析仪、伏安特性测试系统、半导体特性探针台、阻抗分析仪等
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CrossLab 实验室设备管理服务
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