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电失效分析EFA
通过对半导体元件的电性量测,可以验证其参数及特性,例如电压-电流、电容-电压特性曲线、电阻、电容等,借此以推测元件可能的故障原因,并决定后续的测试方案。 常用设备:I/V、TLP
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电芯失效分析
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电性能测试
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等电点测定实验分析
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等电点测定实验分析
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蛋白序列等电点分析
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PCB电性能检测
耐电压、击穿电压、绝缘电阻、绝缘电阻及耐湿性、互连电阻、表面/体积电阻率、铜箔电阻、金属化孔电阻变化、介电常数/介质损耗因数等
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蛋白质等电点分析
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等电点测定及结果分析
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