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透射电镜检测
实验简介:透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),是一种以高能电子束为照明源,通过电磁透镜将穿透样品的电子(即透射电子)聚焦成像的电子光学
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扫描电镜
极薄厚度不能超100nm。其结构包括三大部分:电子学系统、真空系统和电子光学系统。扫描电子显微镜 (scanning electron microscopy,SEM) 是利用聚焦的非常细的高能电子束在
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透射电镜&扫描电镜
:电子学系统、真空系统和电子光学系统。 扫描电子显微镜 (scanning electron microscopy,SEM) 是利用聚焦的非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种
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场发射扫描电镜实验室测试服务
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