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少子寿命测试仪
仪器简介：少子寿命测试仪性能参数：测量原理 QSSPC（准稳态光电导）少子寿命测量范围 100 ns-10 ms测试模式：QSSPC,瞬态，寿命归一化分析电阻率测量范围 3–600 (undoped)
瞬渺科技（香港）有限公司 400-6699-117 转 1000免费咨询 -
少子寿命测试仪
测试手段越来越被重视，加上市场前景的看好，越来越多的国际知名大公司也涉足与光伏太阳能行业，其中在半导体业界非常有名的美国MKS公司就是其中一个典型代表，推出了更为先进，更为靠近光伏行业实际需要的数值的少子寿命测试仪
赛伦科技 400-6699-117 转 1000免费咨询 -
Sinton Instruments+BCT400+少子寿命测试仪
少子寿命测量仪BCT-400BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅（锭或块）的少子寿命.因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数，这个工具直接获得长硅的质量参数
上海瞬渺光电技术有限公司 400-6699-117 转 1000免费咨询 -
KDK-LT-1高频光电导少子寿命测试仪
1:高频光电导少子寿命测试仪/少子寿命测试仪 型号：KDK-LT-1 用途用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。
北京恒奥德仪器仪表有限公司 400-6699-117 转 1000免费咨询 -
锁体寿命测试仪
锁体寿命测试仪概述：锁体寿命测试仪专为检测模拟锁具的锁体而使用寿命而设计，可以适应多种锁具的检测，采用人性化的PLC+人机界面操作简单等优点。
东莞市高升电子精密科技有限公司 400-6699-117 转 1000免费咨询 -
锁体旋钮开关寿命测试仪
设备概述：锁体旋钮开关寿命测试仪适用于智能门锁的防盗保险销寿命模拟测试。
东莞市高升电子精密科技有限公司 400-6699-117 转 1000免费咨询 -
OmniFluo-FLIM显微荧光寿命成像系统
FLIM 应用材料科学领域宽禁带半导体如GaN、SiC 等体系的少子寿命mapping 测量量子点如CdSe@ZnS 等用作荧光寿命成像显微镜探针钙钛矿电池/LED 薄膜的组分分析、缺陷检测铜铟镓硒CIGS
北京卓立汉光仪器有限公司/ZOLIX 400-6699-117 转 7795免费咨询 -
德国徕卡 即时产生寿命成像 STELLARIS 8 FALCON
通过相量简单确定寿命使用 STELLARIS 8 FALCON 的 FLIM 相量图进行分析，可显示寿命分量的 2D 图。
徕卡显微系统(上海)贸易有限公司 400-6699-117 转 5588免费咨询 -
宾斯基-马丁 闪点测试仪
新型电子点火头的使用寿命提高了10倍，有效降低维护操作的成本。
安东帕（上海）商贸有限公司 400-6699-117 转 6868免费咨询 -
微观组合测试仪MCT
MCT 微观组合测试仪集成了安东帕微观压痕测试仪和微观划痕测试仪的所有功能。
安东帕（上海）商贸有限公司 400-6699-117 转 6868免费咨询
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