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范围宽广测试仪可直接测量: a、研磨或切割面:电阻率≥0.5Ω?cm的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命,切割片的少子相对寿命。 b、抛光面:电阻率在0.5~0.01Ω?cm范围内的硅单晶、锗单晶抛光片。范 围:0.5μs~6000
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少子寿命测试采用了独特的测量和分析技术,包括准稳定态光电导(QSSPC)测量方法。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应,表面复合效应等缺陷情况。WCT在大于20%的超高效率太阳能电池(HIT,MWT,EWT,PREL,等等
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少子寿命测试采用了独特的测量和分析技术,包括准稳定态光电导(QSSPC)测量方法。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应,表面复合效应等缺陷情况。WCT在大于20%的超高效率太阳能电池(HIT,MWT,EWT,PREL,等等
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导衰减;表面光电压;微波光电导衰减等对于不同的测试方法,测试结果可能会有出入,因为不同的注入方法,厚度或表面状况的不同,探测和算法等也各不相同。因此,少子寿命测试没有绝对的精度概念,也没有国际认定的标准样片的标准,只有重复性,分辨率的概念。对于同一样品,不同测试方法之间需要作比对试验,但比对结果并不理想。
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少子,即少数载流子,是半导体物理的概念。 它相对于多子而言。 半导体材料中有电子和空穴两种载流子。如果在半导体材料中某种载流子占少数,导电中起到次要作用,则称它为少子。如,在 N型半导体中,空穴是少数载流子,电子是多数载流子;在P型
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主要应用:分布监控和优化制造工艺其它应用:检测原始硅片的性能 测试过程硅片的重金属污染状况 评价表面钝化和发射极扩散掺杂的好坏 用得到的类似IV的开压曲线来评价生产过程中由生产环节造成的漏电。 主要特点: 只要轻轻一点就能实现硅片的关键性能测试,包括表面电阻,少子寿命,陷阱密度,发射极饱和电流密度和隐含电压。
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氘灯一般都在2000小时左右的,长时间在低波长(190---220)下用,要大大缩短起使用寿命。进口氘灯使用时间一般为2000小时,如果不用严格要求,用4000小时也不会有问题!氘灯的寿命是有出厂指标的。大多数进口氘灯的额定寿命为1000小时或2000小时,在实际上如果使用得当,一般都能超过额定寿命。当然还有寿命在3000小时以上的长寿氘灯。
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要点简介我们可以通过分析光致发光或荧光衰减来获得寿命。在拟合衰减时,必须考虑样品潜在的光物理过程,来评估拟合是否适当。本文,我们将使用Fluoracle®软件来对荧光衰减进行单指数、多指数和非指数拟合。● 荧光衰减可以包含多个发射
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筋的粗细、脂肪的光泽和质量四个项目综合评定,以最低等级作为判断标准。换句话说,即使色泽、紧实度和脂肪都是5分,如果脂肪度是3分,最后的肉质等级也只有3分。由于疯牛病,中国从2001年开始禁止进口日本牛肉。专家说,18年后的解禁是由中国的消费
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日本的疯牛病和口蹄疫禁令将从2019年12月19日起解除,这是为了解除日本的疯牛病和口蹄疫禁令。事件起因是2001年日本爆发疯牛病,为防止疯牛病传播,中国停止进口日本牛肉。近10年来,日本再次爆发口蹄疫,中国再次禁止日本偶蹄类动物,包括猪