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霍尔效应测试仪
价格电议HEMS 霍尔效应测量系统 上海伯东英国 NanoMagnetics 仪器 HEMS 霍尔效应测量系统, 多样品实验, 非常适合材料研究等应用.HEMS 霍尔效应测量系统特点 多样
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霍尔效应测试仪 ITO 薄膜测试
价格电议霍尔效应测试仪 ITO 薄膜测试案例 上海伯东某科研客户霍尔效应测试案例一 样品: ITO 氧化铟锡, 标记为 ITO1, ITO2, ITO3样品薄膜厚度: 60 - 100 nm
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Joule Yacht 霍尔效应测试系统 HET
霍尔效应测试系统依据范德堡法则测量材料的电运输性能参数:载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或薄层材料均可测量,可应用于所有半导体材料,包括Si、ZnO、SiGe、SiC,GaAs
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Hall8800霍尔效应测试仪器
1应用范围:研究半导体器件和半导体材料电学特性、精密测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数2规 格:2-1Maximum sample size
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Hall8800霍尔效应测试仪器
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Hall8800霍尔效应测试仪器
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Hall8800霍尔效应测试仪
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Hall霍尔效应测试仪VDP 6800
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PhysTech RH2030 霍尔效应测试仪器
2.功能描述:测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3.技术参数:3-1测试范围:Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN
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Ecopia HMS-3000霍尔效应测试仪
,而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的,因此霍尔效应测试仪是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。ECOPIA公司的HMS系列霍尔效应测量系统主要由恒电流源、范德堡法则终端
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